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定制电路的低功率调谐和尺寸调整

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MunEDA低功耗定制IC设计(模拟,RF) - 亮点

  • 自动电路性能调整

  • 产量设计和高西格玛鲁棒性

  • 稳健性验证


低功耗定制IC设计面临的挑战


在今天的所有设计中,功率都是一个问题。对于移动设备,非常低的功耗是主要的设计目标。尤其是以下领域的模拟和混合信号设计人员: 花费大量精力创建能够以较小的功率预算可靠地满足其规范的电路。在这样的电路中,设计人员必须考虑许多影响因素,例如: 在低电源和超低功耗设计的电路尺寸调整过程中,所有这些影响因素都必须考虑它们的权衡因素。 







典型电路应用 - 全定制低功耗设计


在全定制低功耗设计中使用WiCkeD的典型应用包括: 


采用MunEDA WiCkeD的低功耗定制IC设计流程


与传统设计方法相比,MunEDA WiCkeD工具集可显着提高生产率,并可实现功耗更低,性能更高的高级电路架构。

高性能,高速度,低功耗设计,低噪声要求主要发生在先进技术节点中。因此,设计人员可以从MunEDA的电路尺寸调整工具中受益,以优化性能,功率,噪声,面积,产量等。 

WiCkeD具有足够的容量来分析和确定大型电路的尺寸: 

  • > 100个规格和约束同时处理

  • > 200个设计变量,> 2000 MOS

  • 支持布局后效果和寄生效应

  • 多个测试台,目标,角落,考虑


解决方案 - 用于低功耗设计的WiCkeD工具流程


MunEDA世界一流的优秀电路优化工具可帮助设计人员节省大量电路尺寸和优化速度和功耗的时间。 


当具有电源或噪声问题的电路测试用例时,设计人员可以使用MunEDA WiCkeD工具分析设计挑战并使用功能强大的MunEDA优化器进行修复。如果满足所有设计约束,性能调整的第一步始终是可行性检查。接下来,将完成灵敏度和权衡分析以检查电路性能。确定性名义优化将用于将所有性能带入其标称规格范围。接下来,将针对给定的设计检查诸如过程和操作角落的行为之类的统计效应,并且将实现统计不匹配分析。最后,该电路将通过YOP良率优化进行优化,以获得最佳的稳健性和良率。所有结果将使用MunEDA WiCkeD高性能Worst-Case和High-Sigma分析方法进行验证,包括使用WiCkeD先进的蒙特卡罗分析进行统计验证。结果是针对低功耗和低噪声优化的电路测试案例,具有最佳性能。 

MunEDA WiCkeD - 技术支持


  • WiCkeD集成并支持主要设计框架和模拟器以及独立或定制环境

  • MunEDA WiCkeD支持许多不同技术节点中的许多不同的代工技术和PDK