JTAG(Joint Test Action Group ，联合测试行动小组 ) 是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调试， JTAG 技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路 TAP （ Test Access Port ，测试访问口），通过专用的 JTAG 测试工具对内部节点进行测试。
　　目前大多数 比较复杂的器件都支持 JTAG 协议，如 ARM 、 DSP 、 FPGA 器件等。标准的 JTAG 接口是 4 线： TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO ，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。 目前 JTAG 接口的连接有两种标准，即 14 针接口和 20 针接口，其定义分别如下所示。

14针JTAG接口定义引脚名称描述

　　1 、 13 　　　　　　　　　　　　 VCC 接电源
　　2 、 4 、 6 、 8 、 10 、 14 　　 GND 接地
　　3 　nTRST 　　　　　　　　　　　测试系统复位信号
　　5 　TDI 　　　　　　　　　　　　 测试数据串行输入
　　7 　TMS 　　　　　　　　　　　　测试模式选择
　　9 　TCK 　　　　　　　　　　　　测试时钟
　　11　TDO 　　　　　　　　　　　 测试数据串行输出
　　12　NC 　　　　　　　　　　　　 未连接

20针JTAG接口定义引脚名称描述

　　1　VTref 　　　　　　　　　　　　 目标板参考电压，接电源
　　2 VCC 　　　　　　　　　　　　　　 接电源
　　3 nTRST 　　　　　　　　　　　　　 测试系统复位信号
　　4、6、8、10、12、14、16、18、20 　GND 接地
　　5 TDI 　　　　　　　　　　　　　　 测试数据串行输入
　　7 TMS 　　　　　　　　　　　　　　 测试模式选择
　　9 TCK 　　　　　　　　　　　　　　 测试时钟
　　11 RTCK 　　　　　　　　　　　　　测试时钟返回信号
　　13 TDO 　　　　　　　　　　　　　 测试数据串行输出
　　15 nRESET 　　　　　　　　　　　   目标系统复位信号
　　17 、 19 NC 　　　　　　　　　　　未连接