降低负载电路电容量
只要有可能，就去掉与DUT并联的全部电容器。2300系列电源带宽宽并且因此获得的高速瞬态响应能用于保持状态转换过程中的DUT电压，无需使用DUT的并联电容器。去除电容器降低了负载电路的总电容量，因此去掉DUT的并联电容器将提高负载电路性能。负载电路增加电阻值增
发表于 10/17/2012 11:51:27 AM
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采用良好的接线技术和低阻抗电缆
良好的接线技术能将耦合至电路的外部噪声降至最小而且应当用于全部应用。这些技术对于宽带宽电源/负载电路的稳定性控制至关重要。应采用双绞线作为源和感测线以减少邻近干扰源的有害耦合，并且不受电场和磁场的影响。将源和负载之间的导线缠绕起来可以最小化环路面积，
发表于 10/16/2012 4:25:23 PM
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电源/负载电路组合的稳定性分析
为了分析2300系列电源/负载电路组合，整个电源建模为由一个理想误差校正放大器、一个理想放大器输出级和一个理想反馈感测放大器组成的反馈网络（见图1）。感测放大器直接测量负载电压，促使电源输出升高电压来克服测试线和夹具的损耗，以确保所需电压（或设置电压）被施
发表于 10/12/2012 2:57:05 PM
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稳定电源/负载电路的快速瞬态响应
吉时利的2300系列电池/充电器仿真器（快速瞬态响应电源）专用于研发和制造环境中RFIC功放、手机及其它便携式电池供电产品的功率估计。这些电池仿真电源能从变化量高达1000%（即负载电流增大10倍）的短脉冲负载电流中快速恢复并测量负载电流脉冲的峰值。为了维持输出电压
发表于 10/11/2012 2:45:14 PM
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吉时利推出经济型双通道与三通道可编程电源最高性价比产品
0.03%的基本电压输出准确度，0.1%基本电流回读值准确度，提供更高的数据精度•隔离与独立的电源输出，提供更大的测试灵活性•人性化仪表显示美国俄亥俄州克里夫兰，2012年10月08日讯--吉时利仪器公司，作为先进电性测试仪器与测试系统的行业领导者
发表于 10/10/2012 5:23:49 PM
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应用举例1：IDDQ测试
在此例中，将2000个测试向量发送至必须用恒定2V加电的CMOSIC。此例将使用一个阈值电平，而且1μA及以下的静态电流将被认为是合格电流。无需保存实际的测量值，所以将只检查260X的箝位状态。为确保生产吞吐量符合要求，必须尽快完成测量，最好在1秒以内。测量仪器必须
发表于 9/27/2012 11:17:20 AM
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远距离操作和测试脚本
处理器的使用在进入实际测试实例之前，我们先讨论用于此测试应用的新仪器特性。2600系列源表具有强大的嵌入式计算机或测试脚本处理器，因而能实现在堆架式仪器中从未见过的功能。可以将完整的测试程序（脚本）下载至TSP。与其它常见的编程语言一样，一个精心设计的脚本
发表于 9/26/2012 1:32:11 PM
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CMOS IC的IDDQ测试
测试介绍此测试涉及在输入端处于VDD或VSS并且输出端未连接时，测量CMOSIC的VDD电源耗电流。图1是一个CMOS反相器的测试设置框图。在这个例子中，2601/2602用于源电压（VDD）并测量产生的静态电流。图1.测量一个CMOS反相器的静态电流虽然这个例子示出的IC只有一个栅
发表于 9/25/2012 1:38:55 PM
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用2600系列数字源表进行IDDQ测试和待机电流测试
CMOS集成电路（CMOSIC）和电池供电产品的制造商需要测量静态（或“待机”）电源电流用于验证生产测试质量。CMOSIC或其中含有CMOSIC成品的漏电电流测量过程被称为IDDQ测试。此测试要求在IC处于静态条件下测量VDD电源电流。测试的目的是检查栅氧化层短路及可能
发表于 9/24/2012 2:46:23 PM
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用2600系列数字源表进行IDDQ测试和待机电流测试
CMOS集成电路（CMOSIC）和电池供电产品的制造商需要测量静态（或“待机”）电源电流用于验证生产测试质量。CMOSIC或其中含有CMOSIC成品的漏电电流测量过程被称为IDDQ测试。此测试要求在IC处于静态条件下测量VDD电源电流。测试的目的是检查栅氧化层短路及可能
发表于 9/24/2012 2:45:10 PM
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吉时利三款最新型2600B系列数字源表
——为台式应用而优化拓展数字源表(SourceMeter®)源测量单元(SMU)系列产品2600B系列数字源表提供的崭新特性将有效提高从研发到量产测试的效率美国俄亥俄州克里夫兰，2012年09月17日讯--吉时利仪器公司，作为先进电性测试仪器与测试系统的领导者，推
发表于 9/21/2012 2:16:47 PM
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基于高吞吐率WLR测试的 ACS集成测试系统（二）
多器件TDDB和NBTI图4示出了多器件TDDB测试结构的共用SMU和SMU-per-pin配置。在开关（共用SMU）情况下，SMU1提供连续应力至测试序列的全部结构，SMU2顺序测量每个器件。在顺序分析结构的过程中，开关延时和有限的测量速度合在一起会限制每个结构的测量速度。因此，必须分
发表于 9/19/2012 3:55:22 PM
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基于高吞吐率WLR测试的 ACS集成测试系统（一）
图1.采用SMU-per-pin（每管脚SMU）架构的ACS集成测试系统举例引言随着器件继续小型化，半导体器件可靠性测试以及器件寿命预测面临极大挑战。由于新材料和新工艺的复杂性增大，器件失效的随机性也在增加。1这需要产生更大的统计样本测试数据。虽然传统的应力
发表于 9/18/2012 2:07:21 PM
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用于多站点并行测试的 ACS集成测试系统（二）
系统架构最容易想到的多站点测试仪是迷你测试仪系统。每台迷你测试仪包含了在一个站点上运行一系列测试所需的全部资源。图3示出了两台迷你测试仪组成的系统。每台迷你测试仪含有几个模拟源-测量单元（SMU）、一个测试定序仪/控制器，和一个开关矩阵选件。独立控制器能让
发表于 9/13/2012 3:06:43 PM
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用于多站点并行测试的 ACS集成测试系统（一）
图1.此例中的ACS集成测试系统配置为并行、多站点测试，非常适于这些应用：•多站点参数管芯分选•多站点晶圆级可靠性测试•多站点小规模模拟功能测试行业面临的挑战测试成本被视为未来先进半导体的首要挑战。对测试成本和测试系统购置成本影响
发表于 9/12/2012 1:29:21 PM
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