军械上电磁环境影响的智能和可靠的评估变得容易

在4步内怎样成为一个成功的HERO测试员 

摘要： 
电磁辐射到军械上是危险的，潜在的电磁辐射对军工品或电子爆炸装置有不利影响，自从50年代以来这就是众所周知的
问题。为了避免不必要的爆炸或电起爆装置（EID）从发射电磁能量增殖，这对于所有的防卫机构来说是必不可少的。伴
随着功率输出和发射设备频率范围的持续增加，减小此威胁变得至关重要。


为了确保大炮和军火系统保持安全，在适当维护条件下，测量电子爆炸装置（ EED）上电磁能量影响的测试设备有很大
发展。几年后基于光纤技术的新一代仪器取代了使用热电偶或红外探测的系统。光纤传感器（ FOS）具有高精度和高准
确性，非常灵敏，提供的响应时间可满足高效的EED。由于电绝缘的特性，光纤传感器对电磁干扰（EMI）完全免疫，在
感应环境中可表现出来。由于此有利的参数，基于光纤技术的传感器现已成为    HERO/RADHAZ    测试的标准。然而，什么
是该技术必要的条件以提供EED装置可靠的辐射评估仍然没有明确，怎样去完全发挥此技术优势以完全获益呢？

1.    精确和灵巧的传感器

1.1    技术

HERO/RADHAZ    测试方法在此节会描述，它基于一个非常灵敏和精确的光纤感应技术SCBG（半导体能带隙）技术。基于
SCBG的光纤传感器设计于测量EED桥线丝或类似装置的电磁诱导温度上升。SCBG是一个成熟的技术，使用简单而耐用的
光谱测量技术。技术原理是温度依靠于光传输到GaAs晶体。简单的说，对于低于一个特殊波长过渡区域（叫能带隙）的
所有光波长，GaAs晶体是一个不透明的材料；相反的，对于高于此能带隙的所有波长，GaAs晶体是一个可透过的材料。
波长过渡区域，也就是能带隙光谱位置是温度的函数。为了监控温度而测量能带隙光谱位置的改变就是SCBG技术的原理。