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ADF4350使用总结


    近来项目中使用了ADI公司的ADF4350芯片来产生3.45GHz的本振信号。调试中也遇到了一些问题,现在跟大家分享一下设计的过程和调试经历。
1.
设计原理:
    锁相环的基本原理,相信大家都很熟悉,在此就不陈述了。设计中使用10MHz晶振或者信号源做为参考输入,差分3.45GHz输出。采用小数分频模式,低噪声模式,鉴相器频率为20MHz(芯片内部将输入时钟倍频),环路滤波器带宽为100KHz,分频比172.5。设计中使用FPGAXilinx V5FX70T)来进行SPI配置。
    另外,设计时将LD管脚连接上一个LED灯,程序中配置成模拟锁定,来观察锁相环是否锁定。相关的verilog配置程序在附件中

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附件: ADF4350.rar (2011/4/1 10:19:34, 3.04 K)
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寄存器配置的数据为:

 


Regisiter5:
32'h00C00005;

Regisiter4:
32'h000803FC;

Regisiter3:
32'h000101B3;

Regisiter2:
32'h06005E42;

Regisiter1:
32'h0800FD01;

Regisiter0:
32'h00563E80;


    锁相环原理图设计主要包括电源电路设计,FPGA输入信号电路设计,管脚去藕设计,外接环路滤波器设计,输出电路匹配设计,具体电路图见图1




                                                  1 ADF4350外围电路图
1.1管脚去藕设计:
    由于PLL电源和电荷泵电源质量要求比较高,所以电源要具有良好的退耦,相比之下,电荷泵的电源具有更加严格的要求。具体实现如下:
在电源引脚出依次放置0.1µF0.01µF100pF的电容。最大限度滤除电源线上的干扰。大电容的等效串联电阻往往较大,而且对高频噪声的滤波效果较差,高频噪声的抑制需要用小容值的电容。如图2可以看到,随着频率的升高,经过一定的转折频率后,电容开始呈现电感的特性。不同的电容值,其转折频率往往不同,电容越大,转折频率越低,其滤除高频信号的能力越差。



 

2电容阻抗特性分析



1.2 环路滤波器设计

    环路滤波器使用ADI公司的ADIsimPLL来设计,使用的是无源低通滤波器,带宽100KHz如图3)。图中电容器C1来自电荷泵(ADF4350CP引脚的脉冲转化为直流电压,但是根据对开环传递函数分析,它存在一个二阶极点,会引起环路的不稳定。所以引入了R1C2稳定环路。它给直流控制电压带来的纹波干扰,可由C3滤除。
 

 

 




图3 环路滤波器原理图

1.3 输出电路匹配

输出电路采用datasheet建议的匹配电路来实现(如图4)




图4 RF输出匹配2图
2. 测试过程
2.1 测试平台如图5所示。
5.2.2测试步骤
1、检查电路焊接无误,上电查看电流在正常值范围,电路中电压测量正常。
2、为了测试外接晶振性能,先使用信号源产生20MHz的时钟输入信号接到CLK管脚。再接上信号源、频谱仪,用FPGA将配置信息下载到PLLPLL输出随每次通断电结果时有时无,有输出时频率也不对。


 

5 测试平台


3、检查电路连接,发现FPGAPLL没有共地,共地后测试,仍然没有结果,此时电流在80mA左右,datasheet上查看正常工作时电流在140mA左右。
4、分析:有几次信号输出,说明电路能够正常工作,主要可能是配置数据不正确或者没有配置下去。
5、将这些电容拿掉,重新配置,结果还是不对,是否是SPI配置速度太快,PLL芯片来不及响应,当前配置速度为10MHz,虽然PLLdatasheet上说明配置速度最高可以支持到20MHz,但也只是给出了最大值,没有典型值,决定将速度改低试试。
6、将速度改为1M,重新配置,结果还是不对,使用逻辑分析仪抓取PLL这边SPI数据。
7、 再次使用逻辑分析仪抓取PLL这边SPI数据。发现在数据和LE上有很多毛刺,持续时间达到100nsPLLdatasheet显示LE引脚只要持续高电平20ns即可将数据锁存进PLL,毛刺会干扰数据锁存。
 

 

 

 

配置数据抓取结果


11、在DATA,SCLK管脚上焊接并联到地的电容,另外在LE引脚也加上并联到地的电容,以滤除毛刺(如图)。重新配置,此时抓取的波形显示已没有毛刺(如图8),但是依然无法锁定。



                  图7 FPGAADF4350控制接入图示




 

8 配置数据抓取结果

12、重新焊接环路滤波器,锁定,LED灯亮,输出3.45GHz 信号。测试的相位噪声结果如下:10KHz的相位噪声如图9所示
-76.09dBc/Hz  1KHz offset@3.45GHz

-87.50dBc/Hz  10KHz offset@3.45GHz



 

 

9 10KHz offset@3.45GHz相位噪声



3. 测试中的注意事项:

    测试中还遇到了一些其它的问题,在此不一一详述,现在分享下总结的测试步骤及问题总结。
1.
检查电路连接无误,排除短路等一些问题。
2.
上电,测试电源电压,电流是否正确,参考时钟有无输出。
3.
先把ADF4350板子上电,然后进行SPI配置。要注意上电顺序相当重要,如果ADF4350FPGA同时供电,可在程序上作一定的延时来避免同时上电。如果配置没有结果,可以通过逻辑分析仪来抓取配置数据,分析程序是否正确。如果配置数据无问题,可以在clk,data,le管脚并联10K的电阻来保证数据能下进ADF4350
4.
如果配置数据没有问题,输出锁定的频率不正确,很大的可能是环路滤波器焊接的问题,根据调试经验,这种情况下,大部分都能通过重新焊接来锁定。
5.
因为小数分频杂散比较大,所以可以选择整数分频模式。调试中也进行了相关的实验,影响不是很大,大家也可以做相关的实验。
6.
参考时钟的信号质量对芯片的时钟输出质量影响很大,所以尽量选用质量好的时钟源。
7.
环路滤波器的带宽选择,测试最终选择了100KHz的环路带宽,测试中也尝试了更低的环路带宽,比如50KHz,但是影响锁定时间或者无法锁定。
以上就是我对ADF4350的使用总结,欢迎大家批评指正。

 

转自:http://bbs.ednchina.com/showtopic-123257.aspx