BF533对NandFlash的读写数据测试
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发表于 5/2/2012 9:26:38 PM
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#include "stdio.h"
#include "ccblkfn.h"
#include "sysreg.h"
#include "dm_bf5xx.h"
uint8_t Verify_Table[4096];
uint8_t Test_Data_Table[4096];
uint8_t Read_Table[4096];
extern int_t bytecount;
uint_t Blockn_Address = 0;
uint16_t Pagen_address = 0;
bool write_page(uint_t Page_Address,uint8_t *Buffer);
bool read_page(uint_t Page_Address,uint8_t *Buffer);
bool Block_Erase(uint_t Block_Address);
void Create_Invalid_Blocks_Table(void);
void Reset_NAND(void);
void delay(uint_t DelayValue);
void Read_Chip_ID(void);
/****************************************************************************
* 名称 : RW_Test
* 功能 : 校验写入数据的正确性,将前100页写入数据,读出做比较
* 入口参数 :无
* 出口参数 :无
****************************************************************************/
RW_Test()
{
int_t Block,Page,i,j;
for(Block=1;Block<100;Block++)
{
Block_Erase(Block);
for(Page=0;Page<64;Page++)
{
for(j = 0;j
