颗粒分析仪器的分类

关键字：颗粒分析  加权

随着材料科学和材料制备技术的飞速发展，人们已从色谱、光谱、x 射线衍射、红外、紫外等仪器的测试手段扩展到在化工、冶金、陶瓷、染料、制药、催化、絮凝等领域中．其中超细粉的研究和生产者们将颗粒分析仪器提到了很重要的位置．因此对颗粒分析仪器准确性和分辨率的要求也越来越高。通常情况下我们通过x光小角度散射法，穆斯堡尔谱法，微波法及色谱法间接测定颗粒的粒度。

颗粒分析仪器目前常用的有以下几类：

1．粒度分析仪器(包括平均粒及粒度分布分析)

2．ZETA 电位分析仪器(包括ZETA电位或电泳迁移率分析)

3．比表面分析及孔隙分析仪器

4．分子量、旋转半径及二次维里系数分析仪器

其中粒度分析仪器按其设计时所基于的原理，可有以下几种不同的分类方法：

1. 按加权法分类：

光强加权——光散射法

重量加权——沉降法（包括重力沉降和离心沉降）

数量加权——图像法（包括各种显微镜）和电阻感应法

表面积加权——FRAUNHOFER衍射法

2．按给出的信息量分类：

单个信息（平均粒度）——图像法

两个信息（平均粒度及多分散性）——光散射法

多个信息（粒度分布）——沉降法（包括重力沉降和离心沉降）、电阻感应法和FRAUNHOFER衍射法

3．按仪器的分辨率分类

高分辨率——电阻感应法、沉降法（包括重力沉降和离心沉降）

中分辨率——FRAUNHOFER衍射法

低分辨率——光散射法

4．按粒度范围分类：

这种分类与样品的参数(如颗粒的密度)、实验条件(如介质的粘度、光源的强度、离心机转速或检测时间)等许多因素有关。