芯片的验证测试是芯片开发流程中的重要环节，验证部分的经费在整 个开发中的比例也逐年增大。随着集成电路近年来工艺的发展，使得存储器在设计和制作过程中出现了越来越多的问题，因此芯片验证越来越受到重视，关系到整个 设计的可行性。本文针对Flash芯片的验证开发了一款基于FPGA的通用测试平台，主要内容有:　　1、讨论了开发本款Flash 存储器验证系统的可行性，分析了芯片验证的的国内外发展现状。