jack_ma

针对速度进行设计——与源测量仪器的协调

当然,半导体开关矩阵[1]主机并不是决定系统吞吐能力的唯一因素,也不一定是主导因素。由于分析器件特性时测量时间非常重要,因此最好先对测量硬件进行优化。不过,为了最大限度地提高总吞吐能力,实现半导体开关矩阵主机与源测量仪器之间的良好协调是必不可少的。&nbsp

开关系统计时速度优化,快快快!(一)

在半导体过程控制监控环境中,最大限度地提高测试速度与获得精确的结果同样重要。因此,比较妥当的做法是考虑影响开关系统计时的各种因素,找出一些优化速度的方法。对于高吞吐能力的应用,可以选择既能满足应用的信号电气要求,又能快速启动的继电器。在精

交流特性分析——需要考虑开关卡的通路隔离和带宽指标

瞬态和交流特性分析在半导体行业中非常重要,分析这些特性可用来开发合适的电子模块和了解器件的状态转换。为了简化电容-电压(C-V)测量,需注意通路隔离指标的电容部分,并选择具有低杂散电容的开关。不过,大多数C-V测量仪(比如吉时利4210-CVU[1])都有偏