下一代纳米级IC卓越的性价比测量解决方案
昨天与大家详细讲解了KZ100探测仪中吉时利4200半导体特性分析系统的运用，今天我们来一起探讨下测试下一代集成电路的纳米级IC测量解决方案尖细金属线测试集成电路将被哪项新技术手段代替？多年以来，在光学显微镜下利用尖细金属线探测集成电路(IC)，已经成
发表于 1/5/2012 4:42:20 PM
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