TLC320AD50C是TI公司生产的一款用于低频信号采集的IC，该芯片把AD和DA同时集成在了同一个芯片中，通过DSP的McBSP可以同DSP在硬件上实现无缝连接，而芯片的具体工作模式需要通过该芯片的寄存器赋值来控制。同以往我们使用的AD或者DA相比，他的显著不同在于他是一个可编程的、同时集成AD和DA的芯片。以下是芯片的主要性能参数动态范围88db，信噪比89db，最大采样速率22.05kHz，采样精度16位，RAC接口共模拟信号输入输出。图七、图八为AD芯片原理图及封装图。

JTAG(Joint Test Action Group)联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。

　　JTAG最初是用来对芯片进行测试的，基本原理是在器件内部定义一个TAP（Test Access Port�测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。JTAG编程方式是在线编程，传统生产流程中先对芯片进行预编程现再装到板上因此而改变，简化的流程为先固定器件到电路板上，再用JTAG编程，从而大大加快工程进度。JTAG接口可对PSD芯片内部的所有部件进行编程 图九、图十分别为JTAG接口原理图以及封装图。