对于单频应用，人们都希望工作在很高的鉴相频率上，从而可以获得最佳的相位噪声。ADI公司的锁相环的数据手册上都提供了最高鉴相频率的值，另外，只要寄存器中B 大于A，并且B 大于2，就可能是环路锁定。通常最高频率的限制是：

这里P 为预分频计数器的数值。ADF4xxx 产品的预分频值最小可以到8/9，容许他们工作在较高的鉴相频率上。使用ADI公司的锁相环的时候，最好不要频繁的开关电源，因为这的电源状态（下电时电容泻放电荷不充分，上电时电容充电不充分），从而导致锁相环不能锁定。

在ADI官网上看到关于1/f的问题，那就中介一下，1/f 噪声也叫闪烁噪声（flicker noise），是有源器件中载波密度的随机波动而产生的，闪烁噪声又称为1/f噪声。a一般为1、2、4,也有取6或更大值的情况。与散粒噪声一样。它同样与流过被测体系的电流有关、与腐蚀电极的局部阴阳极反应有关；所不同的是引起散粒噪声的局部阴阳极反应所产生的能量耗散掉了,且E外测表现为零或稳定值2 ,而对应于闪烁噪声的E外测则表现为具有各种瞬态过程的变量。局部腐蚀(如点蚀)能显著地改变腐蚀电极上局部微区的阳极反应电阻值,从而导致E外测的剧烈变化。因此,当电极发生局部腐蚀时,如果在开路电位下测定腐蚀电极的电化学噪声。则电极电位会发生负移,之后伴随着电极局部腐蚀部位的修复而正移；如果在恒压情况下测定,则在电流-时间曲线上有一个正的脉冲尖蜂。它会对中心频率信号进行调制，并在中心频率上形成两个边带，降低了振荡器的Q 值。由于1/f 噪声是在中心频率附近的主要噪声，因此在设计器件模型时必须考虑到它的影响。有些PLL 芯片，例如ADF4002，常用很高的鉴相频率，使用中发现在相位噪声中会有附加的额外成分，这就是1/f噪声。因此，在ADIsimPLL中，将1/f噪声成分加入了小数N 分频和一些高性能的整数N分频锁相环芯片中。1/f噪声由电荷泵产生，但作为特色地仅见于当鉴相频率大于10MHz 的应用中。