器件的降额设计
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发表于 7/29/2010 10:11:12 PM
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降额设计就是使元器件工作时承受的工作应力适当低于元器件规定的额定值，从而达到降低基本失效率并提高模块整体可靠性的目的。对元器件的某些参数适当降额使用，就可以大幅度提高元器件的可靠性，通过整理可以发现模块的可靠性对其电应力和温度应力两个方面比较敏感，故而降额设计技术尤为重要。
对于各类电子元器件，都有其最佳的降额范围，在此范围内工作应力的变化对其失效率有明显的影响，在设计上也较容易实现，并且不会在产品体积、重量和成本方面付出过大的代价。具体怎么操作呢，可以参考以下的军用标准的三级降额，上面的元器件的划分略有些老，不过对于汽车电子方面可以略微做一些调整。
我个人把它分为被动器件，分立器件和集成器件，这里吧被动器件的降额表贴出来。
注意这个中国的军用标准有些老（中国的标准体系里面最为靠谱的还算是军用标准，这点我有深刻的感受），需要根据自己选择的器件进行一定的调整，我觉得可以在三级降额的基础上进行+/-10%的修正，当然每个企业需要根据这些数据调整测试后获取自己的最佳使用点。
在此抛砖引玉吧，武老师好像也写过类似的文章，不过比较散，有空我也希望可以找相应的美国军标看看。
PS：这个周把书的正文一定要赶完，还有10多页的样子，与编辑商议说把所有我知道的较好的应用文献，论文啊之类整理成单独一个附录，原本我想放在光盘里面的，不过有很多版权的问题。不知道大家是否对这个做法感兴趣。
