Stone_Mei

应对多样化数字接口测试挑战的解决方案——基于可编程FPGA的测试仪器

现今,电子测试工程师面临着大量多样化的数字接口带来的挑战。军事、航空、通信和汽车电子都同时使用工业标准和定制数字接口。专用特定接口的测试仪器和用于通用数字I/O接口的测试仪器可以支持以上大部分接口。专用测试仪器是非常昂贵的,通用数字I/O接口的测试仪器仅试用部分方案并且需要大量编程/调试工作,最终也会增加成本。然而,基于可编程FPGA的测试仪器可以提供成本合理的解决方案,并可选通用数字I/O接口还

如何使用寄存器级读&写控制基于PXI平台的FPGA?

本文以基于PXI平台的Marvin Test Solutions 3U FPGA板卡GX3500为设计对象,通过设计实例讲解如何使用寄存器级读&写控制FPGA,并提供FPGA设计相关文件(如SVF)和软件控制例程。概述了如何使用GX3500设计128通道的静态I/O。此设计实例配置为4组32通道双向引脚,双缓冲结构支持同步更新128通道逻辑状态的读和写。使用Altera Quartus II软件。

搭建PXI系统,不只有NI

PXI机箱 PXI控制器 测试测量

脉冲发生器在半导体测试中的应用

带图完整版:非易失性存储单元表征内存研究的趋势是开发一种新的存储器,称为非易失性RAM,它结合了RAM的快速读取与大容量存储器的海量内存的特点。有很多新储存单元方案,例如,FeRAM(铁电储存器),ReRAM(电阻储存器),MRAM(磁阻储...