将2700系列的SCPI应用转换为3700系列的系统开关/万用表系统脚本应用
多年来，仪器制造商已经在用“可编程仪器标准指令”或SCPI控制测量仪器系统的可编程测试和测量设备。SCPI为控制测试和测量仪器提供了一种统一、一致的语言。不论制造商还是仪器类型，都能使用相同的指令和响应控制SCPI设备中相应的仪器功能。吉时利最新
发表于 10/30/2012 5:20:41 PM
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保持电源/负载电路组合稳定的推荐方案序列
请按照下面的推荐步骤顺序能够解决电源/负载电路的稳定性问题：1.尽可能去除测试夹具上、DUT两端的全部电容器。2.尽可能使用特氟龙绝缘线降低电源线的电感量。或者，使用带特氟龙绝缘的SC-182同轴电缆。使用良好的接线方法并使连接至DUT的线长最短。3.如果使用2302或230
发表于 10/29/2012 1:50:06 PM
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吉时利将晶体管图示仪的量程和简化性与参数分析仪精度和灵活性完美结合
为功率器件特性分析提供7种解决方案美国俄亥俄州克里夫兰，2012年10月22日讯--吉时利仪器公司，作为先进电气测试仪器与系统的世界级领导者，为大功率器件的参数曲线分析应用推出了7种解决方案，适用于高达3,000V和100A的大功率器件特性分析。这些配置可以提
发表于 10/22/2012 4:58:37 PM
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实际不稳定问题和稳定方案
图1描述了实际系统对1A负载电流脉冲的电压响应（下面的曲线）。负载是阻性的，电缆长度可以忽略（负载直接连在电源输出端）。负载电压对负载电流脉冲上升沿和下降沿的响应显示了10mV压降与10mV过冲。这非常接近于能够实现的理想响应。图1.瞬态响应，对于阻性负载
发表于 10/19/2012 5:29:00 PM
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降低负载电路电容量
只要有可能，就去掉与DUT并联的全部电容器。2300系列电源带宽宽并且因此获得的高速瞬态响应能用于保持状态转换过程中的DUT电压，无需使用DUT的并联电容器。去除电容器降低了负载电路的总电容量，因此去掉DUT的并联电容器将提高负载电路性能。负载电路增加电阻值增
发表于 10/17/2012 11:51:27 AM
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采用良好的接线技术和低阻抗电缆
良好的接线技术能将耦合至电路的外部噪声降至最小而且应当用于全部应用。这些技术对于宽带宽电源/负载电路的稳定性控制至关重要。应采用双绞线作为源和感测线以减少邻近干扰源的有害耦合，并且不受电场和磁场的影响。将源和负载之间的导线缠绕起来可以最小化环路面积，
发表于 10/16/2012 4:25:23 PM
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吉时利推出具有超低电流分辨率的双通道皮安表/电压源
与同类竞争产品相比，体积更小，成本更低!美国俄亥俄州克里夫兰，2012年10月15日讯--吉时利仪器公司，作为先进电性测试仪器与测试系统的行业领导者，通过推出6482型双通道皮安表/电压源不断扩大其在低电平测量领域的领导地位，该皮安表包括两个±30V的独立电源，
发表于 10/15/2012 3:53:52 PM
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电源/负载电路组合的稳定性分析
为了分析2300系列电源/负载电路组合，整个电源建模为由一个理想误差校正放大器、一个理想放大器输出级和一个理想反馈感测放大器组成的反馈网络（见图1）。感测放大器直接测量负载电压，促使电源输出升高电压来克服测试线和夹具的损耗，以确保所需电压（或设置电压）被施
发表于 10/12/2012 2:57:05 PM
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稳定电源/负载电路的快速瞬态响应
吉时利的2300系列电池/充电器仿真器（快速瞬态响应电源）专用于研发和制造环境中RFIC功放、手机及其它便携式电池供电产品的功率估计。这些电池仿真电源能从变化量高达1000%（即负载电流增大10倍）的短脉冲负载电流中快速恢复并测量负载电流脉冲的峰值。为了维持输出电压
发表于 10/11/2012 2:45:14 PM
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吉时利推出经济型双通道与三通道可编程电源最高性价比产品
0.03%的基本电压输出准确度，0.1%基本电流回读值准确度，提供更高的数据精度•隔离与独立的电源输出，提供更大的测试灵活性•人性化仪表显示美国俄亥俄州克里夫兰，2012年10月08日讯--吉时利仪器公司，作为先进电性测试仪器与测试系统的行业领导者
发表于 10/10/2012 5:23:49 PM
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应用举例1：IDDQ测试
在此例中，将2000个测试向量发送至必须用恒定2V加电的CMOSIC。此例将使用一个阈值电平，而且1μA及以下的静态电流将被认为是合格电流。无需保存实际的测量值，所以将只检查260X的箝位状态。为确保生产吞吐量符合要求，必须尽快完成测量，最好在1秒以内。测量仪器必须
发表于 9/27/2012 11:17:20 AM
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远距离操作和测试脚本
处理器的使用在进入实际测试实例之前，我们先讨论用于此测试应用的新仪器特性。2600系列源表具有强大的嵌入式计算机或测试脚本处理器，因而能实现在堆架式仪器中从未见过的功能。可以将完整的测试程序（脚本）下载至TSP。与其它常见的编程语言一样，一个精心设计的脚本
发表于 9/26/2012 1:32:11 PM
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CMOS IC的IDDQ测试
测试介绍此测试涉及在输入端处于VDD或VSS并且输出端未连接时，测量CMOSIC的VDD电源耗电流。图1是一个CMOS反相器的测试设置框图。在这个例子中，2601/2602用于源电压（VDD）并测量产生的静态电流。图1.测量一个CMOS反相器的静态电流虽然这个例子示出的IC只有一个栅
发表于 9/25/2012 1:38:55 PM
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用2600系列数字源表进行IDDQ测试和待机电流测试
CMOS集成电路（CMOSIC）和电池供电产品的制造商需要测量静态（或“待机”）电源电流用于验证生产测试质量。CMOSIC或其中含有CMOSIC成品的漏电电流测量过程被称为IDDQ测试。此测试要求在IC处于静态条件下测量VDD电源电流。测试的目的是检查栅氧化层短路及可能
发表于 9/24/2012 2:46:23 PM
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用2600系列数字源表进行IDDQ测试和待机电流测试
CMOS集成电路（CMOSIC）和电池供电产品的制造商需要测量静态（或“待机”）电源电流用于验证生产测试质量。CMOSIC或其中含有CMOSIC成品的漏电电流测量过程被称为IDDQ测试。此测试要求在IC处于静态条件下测量VDD电源电流。测试的目的是检查栅氧化层短路及可能
发表于 9/24/2012 2:45:10 PM
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