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2510温度控制源表设置

2510型设备基于给定的温度传感器TEC制冷片进行编程,并设置单点温度。在控制器将激光二极管模组稳定到目标温度之前,首先对TEC的AC电阻进行测量和显示。如下是一个利用VisualBasic和吉时利488GPIB卡控制2510-AT的实例。‘ResetInstrumentssend(kth2510

LIV脚本函数调用

在VisualBasic6和吉时利GPIB卡中,运行LIV测试的调用命令类似于如下的方式:CallSend(kth2602,“LIVTest()”,status)‘runfunctionLIVtest()其中,Kth2602表示测试设备地址。数据返回:函数printData()将3组数据(L,I,V)放到输出队列中,其他还

LIV测试中,2602型源表系统设置

整个的LIV测试都可以写成一个测试序列或脚本。在这个脚本中,2602型设备的SMUA通道被编程设定为进行0~100mA、100次步长1mA的电流扫描。在每个新的电流值施加到激光二极管上之后,SMUB通道通过直接测量光电二极管的电流来测量激光二极管的输出光强。2602型设备是功

对2602型源表编程的流程

下面是一个简单的对2602型源表编程的流程:1)创建脚本;2)将脚本下载到设备中;3)调用脚本运行。2602源表的脚本可以通过提供的测试脚本生成器(TestScriptBuilder)软件生成,或通过其他程序,如VisualBasic或LabVIEW,下

LIV测试系统的组成

图1示出了LIV测试系统的组成,包括2602型源表、2510-AT型自动温度控制源表和一台配备了GPIB接口板的计算机。2602型源表是一个双通道的源表(SMU),可以在提供源电压或电流的同时进行电压和电流的测量。这样用一个SMU通道即可以为待测器件(DUT)提供源电流,并进行电压

激光二极管模组测试(二)

拐点测试/线性度测试这项测试对图1中所示的驱动电流IF和输出光强度L之间的比例关系进行测试校验。驱动电流IF和输出光强度L之间在额定的工作范围内应为线性关系。如果在测量范围内,两者确实是线性关系,L-IF曲线的一阶导数曲线将是一条近似水平的线段,标记为dL/dIF曲线

激光二极管模组测试(一)

激光阈值电流测试阈值电流是激光二极管开始发射激光时的点电流。标定阈值的一种方法是二阶导数法。这种方法中,阈值电流定义为输出光强度曲线对电流二阶导数的第一个最大值,基于光强度测量结果计算得出,如图1所示。图1.阈值电流计算图解背光探测器

2602型源表进行LIV测试扫描

正向电压测试正向电压(VF)测试对激光二极管的正向直流特性进行校验,测量时扫描电流IF,测量激光二极管上的电压降。一些大功率激光二极管可能要求电流扫描范围达到2~3A,步长一般在1mA。更多情况下,一般电流扫描至1A,步长为0.5mA或0.25mA。测试扫描的步长时间应在几个

直流测试中,激光二极管或VCSEL模组的关键技术参数

在直流测试中,激光二极管或VCSEL模组的关键技术参数如下:•激光二极管正向压降•拐点测试/线性度测试(dL/dI)•阈值电流•背光探测二极管反向偏置电压•背光探测二极管电流•背光探测二极管暗电流•光输出功率通过LIV测试扫描,可以

采用2602型源表进行高吞吐量激光二极管模组和VCSEL直流生产测试

激光二极管(Laserdiode,LD)和垂直腔面发射激光器(VerticalCavitySurfaceEmittingLaser,VCSEL)在光通信、光谱学和其他许多重要应用中是两种主要的元器件。随着对上述应用的需求的增长,对这两类基本元件的需求也随之增长,这就要求人们更加注重于开发精确且成本经

“分立电阻器检定测试系统”——设备清单及替代解决方案

设备清单为了装配连续进给电阻器检定测试系统并运行示例程序,需要以下设备:1.吉时利2400型数字源表2.PC机,含KPCI-488A接口卡3.电阻器分拣机以及测试夹具4.吉时利7007IEEE-488接口线缆5.定制的DB-9I/O分拣机接口线缆(用于实现2400型数字源表与分拣机的接口)6.测试引线

分立电阻器检定测试系统——示例程序

示例程序吉时利公司已经开发出能够对10个1MΩ电阻器进行电压系数测试和公差带测试的示例程序。在这个程序中,电压系数测试首先运行,使用100V和200V的测试电压。限制电流设置为10mA,上限和下限设置为±0.1%/V。当测试电流为10mA时进行公差带测试,公差

分立电阻器检定测试系统的常见误差来源——热电动势及漏电流

热电动势当电路中的不同金属处于不同温度时,会形成热电动势(EMF)或电压。为了消除这些不必要的电压带来的影响,使用偏置补偿电阻测量方法。通常,这个方法在指定的电流源值测量电阻,然后减去电流源设置为零时测得的电阻。当源电流设置为零时,就可以测得是因热电动势

分立电阻器检定测试系统的常见误差来源——引线电阻

为了避免测量误差,必须根据待测电阻器的阻值大小使用特定的测量技术。对于小电阻(<100Ω)测量,引线电阻和热电动势可能带来误差问题。当测量大电阻(>10MΩ)时,漏电流和静电干扰可能导致读数错误。引线电阻测量小电阻(<100Ω)时常见的误

分立电阻器检定测试系统的IEEE总线操作

在编写建立和执行公差带测试和电压系数测试程序时,这里有几个常用步骤需要遵守。在进行这些测试时,每个测试点都配置并存储在源存储单元中。源表内存允许存储高达100个完整的测试程序,而且可以利用单一命令通过IEEE总线启动程序。2400型数字源表可以在没有计算机干预