OLED显示器的DC生产测试中测试系统的性能
我们曾对采用四个2400的测试系统的测试速度、小电流和小电压测量精度，在一系列不同的测量时间间隔条件下（即不同的NPLC设定参数）进行过特征化测试。NPLC参数与测试时间间隔有如下关系式&nbs
发表于 5/23/2012 4:21:55 PM
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OLED显示器的DC生产测试中测量误差的来源
测量误差的来源是由测试系统的精度、以及在对OLED给出信号和进行测量期间所未曾想到的瞬态过程引起的。在进行快速的生产测试时，在稳定状态下进行精确DC测量的能力，是与尽可能快地完成测试的需求相互牵制的。测试周期的时间长短是由源/测量以及开关操作组成的，而这一
发表于 5/22/2012 2:59:33 PM
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OLED显示器的DC生产测试中测试夹具的设计与建造
吉时利曾经构建了一个用于48×64OLED阵列的测试夹具，用以研究以四个2400源表构成的OLED测试系统的性能。电路板上的走线将3个安装在夹具边缘的7011-MTR96针连接器与治具(jig)下方的接触焊点相连；该治具由Delrin制造，显示器就被置于其中。三条7011-MTC-2电
发表于 5/21/2012 5:36:15 PM
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OLED显示器的DC生产测试中重要电指标（二）
显示器测试对一个以像素阵列组成的显示器进行测试，需要自动对信号进行路由切换，以便将电源切换至被测像素上。一种GPIB控制的开关系统，例如7002，可以对其内部的二维继电器开关扫描卡进行控制。图1中的结构图说明了如何把两个多路复用（multiplex）扫描卡连接成
发表于 5/18/2012 6:19:33 PM
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OLED显示器的DC生产测试中重要电指标（三）
一个完整测试周期包括以下几部分：相应的继电器闭合，把测试信号路由至被测像素，再由源表给出测试信号并进行测量。利用测试仪中的固件对扫描进行预编程的能力，大大减少了传送到每个测试仪的SCPI命令的数量。这就使GPIB总线在测试期间包括数据传输在内的流量减到最小。
发表于 5/18/2012 6:18:14 PM
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OLED显示器的DC生产测试中重要电指标（一）
对于OLED和OLED显示器的性能，有几个电指标非常重要：·反向偏置漏电流·正向和反向偏置时的I-V扫描特性·显示器像素的短路和开路测试上述测试首先在单像素测试的叙述中进行讨论。通过使用开关，可以对单像素测试进行扩展以实现不同尺寸多像素
发表于 5/16/2012 4:03:08 PM
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吉时利对于OLED显示器的DC生产测试
据媒体报道，三星旗下三家面板公司SamsungDisplay、S-LCD以及SMD将被合并成一个公司，新公司将主要从事利润更好的AMOLED面板产品生产。面对竞争日益激烈的OLED市场，吉时利会如何服务呢？这段时间吉时利就和大家探讨一下OLED显示器的DC生产测试，对几个低成本无源
发表于 5/15/2012 5:36:34 PM
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利用大功率数字源表构建多源测量单元（SMU）系统（连载九）：系统实例
利用测试夹具对封装器件进行测试吉时利8010型大功率器件测试夹具与2651A以及2657A型大功率系统数字源表一起完善了功率半导体器件测试解决方案。图1给出源测量单元（SMU）仪器与8010型夹具的连接图。在8010型互连参考指南(IRG)中给出详细的器件测试配置实例，可以
发表于 5/14/2012 3:48:21 PM
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利用大功率数字源表构建多源测量单元（SMU）系统（连载八）：控制仪器硬件
当同时使用多个仪器时，对待测器件的源和测量时序进行协调非常重要。因此，利用可用的软件方案、以简化和/或避免昂贵的编程，是非常有利的。利用商家提供的免费启动软件验证测试系统配置和功能。2600A与2650A系列源测量单元（SMU）提供一款TSP®Express软件，这是通
发表于 5/11/2012 6:06:43 PM
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利用大功率数字源表构建多源测量单元（SMU）系统（连载七）：优化仪器建立，确保优良测量
一旦系统建立完毕，就要对其功能进行测试，并优化仪器建立，以获得最佳测量。对于开启状态特性分析在当今进行的大部分开启状态特性分析中，为了实现最小热量，都对器件施加脉冲信号。此外，许多功率半导体器件的最终应用也都是在脉冲条件下工作的。让源测量
发表于 5/10/2012 5:17:13 PM
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利用大功率数字源表构建多源测量单元（SMU）系统（连载六）：检查系统安全和仪器保护
进行布线和夹具设计时，考虑系统安全性也很重要。为了确定操作人员以及仪器会遇到什么危险，要对各种故障情况进行思考，包括因操作人员失误以及因器件状态变化而带来的故障。大电流测试的潜在危险之一是火灾或或烧伤危险。在大电流测试期间，要使待测器件处于封闭状态，
发表于 5/9/2012 3:44:42 PM
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利用大功率数字源表构建多源测量单元（SMU）系统（连载五）：为源测量单元（SMU）建立公共基准
在测试系统问题中，被误解最多的就是接地。这里，“接地”定义为到接地端的连接。不过，许多人往往使用“接地”一词表示测试电路中源测量单元（SMU）的基准点。在本应用笔记中，这个基准点被称作“电路公共端”。接地为了安
发表于 5/8/2012 3:56:40 PM
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利用大功率数字源表构建多源测量单元（SMU）系统（连载四）：为高电压测试选择最佳电缆
确保测试期间使用的电缆符合测试系统最大电压额定值。在功率器件关闭状态特性分析期间经常遇到高压、低电流测试，要使用能够实现这类测试所需性能的电缆。在高压测试时，要保证充分绝缘，并使漏电流和系统电容带来的影响最小化。适当绝缘使用电缆的耐压额定
发表于 5/7/2012 3:49:59 PM
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利用大功率数字源表构建多源测量单元（SMU）系统（连载三）：仪器连接1
仪器连接待测器件(DUT)与仪器的连接对于获得有意义的结果是至关重要的。在使用吉时利8010型大功率测试夹具时，利用吉时利公司提供的电缆连接仪器直截了当。关于连接图，请参见本文件中“系统实例”部分的图22。如果要连接到探测器或定制夹具，请牢记下面这些
发表于 5/4/2012 4:04:01 PM
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利用大功率数字源表构建多源测量单元（SMU）系统（连载二）：选择连接待测器件与仪器的电缆和夹具1
确定器件接口过去，大多数功率半导体制造商为了测试不得不对器件进行封装，因为当时对晶片上器件施加数十或数千伏电压的技术尚未广泛使用。商用探测器解决方案的应用使得诸多制造商可以对晶片上器件进行测试，从而降低了测试成本。有关封装器件或晶片上器件测试的
发表于 5/3/2012 3:33:11 PM
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