AET网站
资源下载
技术应用
资讯
电路图
技术专栏
小组
大学堂
登录
|
注册
小磷光一
AD性能测试平台
雷达信号处理对前端AD模块的性能和正交通道一致性的要求越来越高,因此对这些特性的测试变得非常重要。AD模块综合测试台的电路系统框图如图1所示。信号源由DDS芯片构成,产生的正弦信号经ADC后变为数字信号,再经正交变换后成为同相分量和正交分量,分别记作I路、Q路。
ADI
DDS
发表于 2012/1/9 20:55:32
阅读(2880)
«
1
»
作者
小磷光一
关注
文章:73 篇
阅读:263048 次
所有分类
默认(73)
所有标签
ADI
BF533
IGBT
ADXL345
ADXL330
ADXL206
MEMS麦克风
DMP441iMEMS
ADMP421
ADIS16405
阅读排行
TSP工作时BF533的相关寄存器初始化
ADT7516的底层读写配置
BF533对MCP2515的读,写等底层驱动
加速度计简介
ADuC7060进行位置检测
IGBT驱动电路
三轴陀螺仪的原理
陀螺仪加速度计组合使用
Flash型ADC应用中的问题
利用IO端口产生PWM信号控制电机(原创)
关注微信公众号
Copyright © 2005-2020 《电子技术应用》版权所有
京ICP备10017138号