钜合新材料无压烧结银SECrosslink H82E因在裸铜框架上的卓越性能,获得金奖!
0赞传统上,为了在铜框架上使用烧结银技术,必须对铜表面进行预镀银或镀镍等处理。这么做的原因是:
防止氧化:铜在常温下极易氧化,形成氧化铜膜。这层氧化膜会严重阻碍烧结银与铜基材之间的冶金结合,导致连接强度差、热阻高。
促进烧结:洁净的银表面能与烧结银膏中的银颗粒更好地形成烧结颈,实现致密的冶金结合。镀银层提供了一个理想的烧结界面。
然而,预镀层工艺也存在明显缺点:
增加成本:电镀或化学镀工序增加了额外的材料和加工成本。
引入新的界面:镀层与基材之间的结合面本身也可能成为可靠性的薄弱环节。
环保压力:电镀过程涉及化学品,对环境治理要求高。
SECrosslink H82E 的技术价值所在
H82E能够在裸铜上实现卓越性能,意味着它很可能通过技术手段解决了上述难题,其技术价值体现在:
强大的还原能力:膏体中很可能含有温和而高效的还原剂,能够在烧结升温过程中,有效去除铜表面的氧化物,暴露出纯净的铜表面,从而实现银与铜的直接、牢固结合。
优异的界面反应:其配方可能优化了与铜的界面反应,促进了银-铜之间的原子扩散,形成了强力的冶金结合。
简化工艺流程,降低成本:
省去电镀步骤:为客户直接节省了镀层成本。
提升生产效率:减少了供应链环节和生产周期。
提升可靠性:消除了镀层与基材之间的潜在失效界面,理论上可以获得更稳定、更可靠的连接性能。
这与我们之前讨论的“设备需求”有何关联?
这款产品的成功,进一步印证了无压烧结技术的未来趋势:
对气氛控制的要求可能更高:为了在裸铜上实现完美的还原与烧结,可能需要与烧结炉内的保护气氛(如低氧含量的氮氢混合气)进行精确配合。
工艺窗口的优化:它的最佳烧结温度曲线(升温速率、峰值温度、保温时间)可能需要针对裸铜基材进行专门优化,以确保还原反应和烧结过程同步完美进行。
扩大了无压烧结的应用范围:使得无压烧结这种对芯片友好的技术,能够以更低的成本应用于最主流的铜框架上,加速其在碳化硅、氮化镓等功率器件封装中的普及。
总结
钜合新材料SECrosslink H82E的无压烧结银膏获得金奖,不仅是产品本身的胜利,更是技术路线和解决方案的胜利。它标志着无压烧结银技术在成本、性能和工艺简化方面达到了一个新的高度,为功率电子封装,特别是正在快速发展的碳化硅模块,提供了一个极具吸引力的 “降本增效” 的互联方案。
这对于器件制造商来说是一个利好消息,意味着他们可以在不牺牲性能的前提下,采用更简单、更经济的工艺来生产更高可靠性的功率模块。

