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S参数测量中针对夹具或探头的新一代去嵌方法

胡为东系列文章之十二暨去嵌系列文章之一S参数测量中针对夹具或探头的新一代去嵌方法NewDe-embeddingMethodforProbe&amp

PCIE 3.0的接收机物理层测试方案

胡为东系列文章之十一暨PCIE3.0系列文章之三PCIE3.0的接收机物理层测试方案TeledyneLeCroy胡为东一、接收机测试及环回工作模式(Loopback)随着信号速率的不断提升,只对高速信号的发送端物理层测试已经不能够完全反应系统的特性,因此接收机测试也已成为了

PCIE 3.0的动态均衡测试挑战

胡为东系列文章之十暨PCIE3.0系列文章之二PCIE3.0的动态均衡测试挑战TeledyneLeCroy胡为东一、PCIE3.0中使用的动态均衡概念因为PCIE3.0信号的速率可以达到8Gb/s,而且链路通道走线也可能会很长,这可能会导致高速信号衰减过大,在接收端无法得到张开的眼图

PCIE 3.0的发射机物理层测试

胡为东系列文章之九暨PCIE3.0系列文章之一PCIE3.0的发射机物理层测试TeledyneLeCroy胡为东一、PCIE3.0与PCIE2.0PCIE3.0相对于它的前一代PCIE2.0的最主要的一个区别是速率由5GT/s提升到了8GT/s。为了保证数据传输密度和直流平衡以及时钟恢复,PCIE2.0中使用

USB 3.0一致性测试方法

胡为东系列文章之八USB3.0一致性测试方法美国力科公司胡为东摘要:在2008年11月,HP、Intel、微软、NEC、ST-NXP、TI联合起来正式发布了USB3.0的V1.0规范。USB3.0又称为SuperSpeedUSB,比特率高达5Gbps,相比目前USB2.0的480Mbps的速率,提高了10倍以上。Intel的芯

相位噪声的时域测量方法

胡为东系列文章之七相位噪声的时域测量方法美国力科公司胡为东摘要:相位噪声主要是衡量因信号的相位变化而带来的噪声,在频域中表现为噪声的频谱,在时域中又表现为信号边沿位置的抖动,因此在实际应用中,相位噪声和信号的抖动其实本质是相同的。本文就将对相位

小电压电源噪声的测量

胡为东系列文章之六小电压电源噪声的测量美国力科公司胡为东摘要:当今的电子产品,信号速度越来越快,集成电路芯片的供电电压也越来越小,90年代芯片的供电通常是5V和3.3V,而现在,高速IC的供电通常为2.5V,1.8V或1.5V等等,供电电压越小,对电压的波动要求也就越高。

USB 3.0物理层测试中的一致性模式和环回模式介绍

胡为东系列文章之五USB3.0物理层测试中的一致性模式和环回模式介绍美国力科公司胡为东摘要:USB3.0的链路连接和电源管理主要有12个工作状态模式。而一致性模式(compliancemode)和环回模式(loopbackmode)是其中的两个模式,主要用于USB3.0的host或者devi

使用力科示波器测量信号相位变化的方法

胡为东系列文章之四——使用力科示波器测量信号相位变化的方法美国力科公司胡为东摘要:在实际应用中,经常会遇到相位的测量,比如说两个信号之间的相位测量,或者同一个信号在不同时刻的相位变化(如相位调制信号)。示波器是测量信号时域

高速串行信号的接收端测试

胡为东系列文章之三高速串行信号的接收端测试美国力科公司胡为东摘要:随着高速串行信号速率的提高,接收机测试已经成为串行数据标准要求的一项必测项目,如USB3.0、PCIEGen3、SATAGen3等超过5Gbps速率以上的规范均要求进行接收端性能测试。接收端测

高速信号的SSC扩频时钟测试分析

胡为东系列文章之二高速信号的SSC扩频时钟测试分析美国力科公司胡为东摘要:由于FCC、IEC等规定电子产品的EMI辐射不能超出一定的标准。因此电路设计者需要从多个角度来思考如何降低系统的EMI辐射,如进行合理的PCB布线、滤波、屏蔽等。由于信号的辐射主要是

使用力科示波器实现高速信号的物理层链路层和协议层的全方位分析

胡为东系列文章之一使用力科示波器实现高速信号的物理层链路层和协议层的全方位分析美国力科公司胡为东摘要:在高速信号调试时工程师必须首先调试并验证其设计是否符合物理层规范。在此阶段,信号完整性(如眼图和抖动)是关键问题,很多这种验证和调试是通