SPARQ系列述评之九——普罗众生的S参数测量
S参数方面的话题显然是DesignCon2011上最受到关注的话题。很多主题讲座，很多参展的新产品都和此话题相关。力科在Designcon2011上展示了其4个月前发布的4端口,基于TDR原理的网络分析仪SPARQ，并且预先展示了即将发布的12端口SPARQ。SPARQ表示“S-ParametersQuick&r
发表于 9/25/2011 8:21:11 PM
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SPARQ系列述评之八—— SPARQ 动态范围
美国力科公司PeterJ.Pupalaikis摘要：本文将讨论信号完整性网络分析仪SPARQ动态范围以及考虑一些关键指标的影响，并和竞争对手的两种
发表于 9/11/2011 8:34:45 PM
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SPARQ系列述评之七——爱上SPARQ的八大理由（下）
爱上SPARQ有八大理由：1，40GHz,4端口2，一键操作，内置OSLT校准3，价格只有传统VNA的一小部分4，能直接用于仿真的S参数5，实时进行时域观察,仿真和分析6，支持TDR/TDT模式7，去
发表于 9/11/2011 6:56:58 PM
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SPARQ系列述评之六——爱上SPARQ的八大理由（上）
“告诉我,我为什么要买你的SPARQ,而不是买VNA?”如果您这样问我，对不起，也许我会反问您，您的真实的测试需求是什么?我想说的是,SPARQ是满足信号完整性市场的最好的S参数测试仪。如果您是类似于华为,中兴，联想，Foxconn，HP，Dell,Cisco,Intel，nVIDI
发表于 9/11/2011 6:46:43 PM
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SPARQ系列述评之三—— 关于S参数(上)
汪进进编写Frankie.Wang@LeCroy.com美国力科公司无源网络如电阻，电感，电容，连接器，电缆，PCB线等在高频下会呈现射频、微波方面的特性。S参数是表征无源网络特性的一种模型，在仿真中即用S参数来代表无源网络
发表于 8/23/2011 8:43:28 PM
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SPARQ系列述评之二——信号完整性问题与S参数的关系
胡为东美国力科公司摘要：随着半导体工艺的不断发展，数字信号的速率也愈来愈高，Gbps以上的高速信号已经随处可见。面对高速设计的新领域，硬件设计工程师们需要改变传统的设计理念，他们需要以更加超前的思维去思考自己将要设计的信号的质量，
发表于 8/23/2011 8:27:54 PM
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SPARQ系列述评之一 ——SPARQ概述
汪进进美国力科公司中国区一，什么是SPARQ？很多人在问,为什么要将这个产品命名为SPARQ？SPARQ是S-ParameterQuick的简称——意为快速测量S参数。SPARQ是不同于市场上已有的VNA和TDR的一种新型仪器，是力科在信号完整性测量领域的又一创新产品。SP
发表于 8/23/2011 8:01:37 PM
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