DDR 测试系列之二—— 使用力科 WaveScan 技术分离 DDR2 的读写周期
测量DDR2存储设备需要把读/写的访问周期分离开来。在DDR2中通过Strobe和Data总线之间的关系可以区分出来读和写的操作。如图1所示，在读操作时Data和Strobe的跳变是同步的，而在写操作时Strobe的跳变则领先于Data。我们利用这种时序上的差异就可以分离出读操作和写操作。
发表于 8/23/2011 8:17:03 PM
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DDR测试系列之三—— 某SDRAM时钟分析案例
张昌骏美国力科公司深圳代表处前个周末接到了一个朋友的电话，询问我如果内存有问题，需要测试哪些项目？对于这个很常见的问题，我习惯性的回答他先测量内存时钟和读写时序看看，然后结束了通话。没过一会，我那朋友又打过来，告诉我他遇到一个怪事，他用探头点测内存时
发表于 8/23/2011 8:06:46 PM
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DDR测试系列之四——漫话DDR3 张鹏 美国力科公司西安联络处
DDR3简介DDR3（double-data-ratethreesynchronousdynamicrandomaccessmemory）是应用在计算机及电子产品领域的一种高带宽并行数据总线。DDR3在DDR2的基础上继承发展而来，其数据传输速度为DDR2的两倍。同时，DDR3标准可以使单颗内存芯片的容量更为扩大，达到512Mb至8Gb
发表于 5/16/2011 4:55:14 PM
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