越测越开心

汽车网络( 多总线) 的测试方案

1、汽车网络测试方案概述汽车电子技术在经历了零部件层次的汽车电器时代、子系统层次的单片机(汽车电脑)控制时代之后,已经开始进入汽车网络化时代,并向汽车信息化时代迈进。采用先进的单片机技术和车载网络技术,形成了车上的分布式、网络化的电子控制系统。

汽车电子器件的验证、设计及测试

汽车电子部件中应用着大量的电子元器件,不论是无源器件如电阻、电容或电感,还是有源器件(半导体)如二三极管、集成电路等,合格的器件才能保证电子部件的正常工作。一般来说,器件的应用必须首先进行合格检验,应用过程中出现故障等也需要进行器件的特性分析。1、电

脉宽调制(PWM) 马达驱动器电源的测试分析(上)

1.概述自电机工程诞生以来,三相交流马达一直是工业领域的主力。它们可靠、高效、费效比高,需要少量维修或根本不需要维修。此外,交流马达(如感应马达和磁阻马达)无需与转子的电气连接,因此很容易实现阻燃,用于危险环境(如矿山)。为了提供适当的交流马达速

汽车电子中常见的器件测试

汽车电子部件中应用着大量的电子元器件,不论是无源器件如电阻、电容或电感,还是有源器件(半导体)如二三极管、集成电路等,合格的器件才能保证电子部件的正常工作。一般来说,器件的应用必须首先进行合格检验,应用过程中出现故障等也需要进行器件的特性分析。1、电

三相电源测量知识ABC

单相电用来为民用和办公电器供电,而三相交流(a.c.)系统则广泛用于配电及直接为功率更高的设备提供电力。三相电由频率相同、幅度类似的三个AC电压组成。每个ac电压“相位”与另一个ac电压相隔120°(图1)。这可以通过图形方式,使用波形和矢量图(图2)进行表示

使用创新的色域工具您应当了解的十件事

1.当您进行色域校正时,您需要高质量的图像清晰度和分辨率。当光线照射到发亮的物体时,镜面的高光部分会呈现为亮点。如果使用的是内建彩色校正软件的显示器件,很容易遗漏一些面积不大的镜面高光区域。2.如果使用的是内嵌彩色校正软件的显示器件,那么您看到的

手把手教你轻松完成嵌入式无线调试

最近,我有幸执行一个涉及ArduinoUno的项目,其中采用AtmelATmega328微控制器,并使用SPI总线连接RFM12B模块、ISM频段FSK收发器。和往常一样,我们要解决多个硬件和软件问题。大家将看到,MDO4000混合域示波器帮助我们找到了噪声问题的根本原因。我使用的设置如下:下面

手把手教你如何进行USB3.0接收机测试

一致性测试USB接收机测试的目的是确认接收机能够以小于等于1x10-12的目标误码率(BER)正确检测发送的数据。发射机测试的重点放在幅度、抖动或其它参数测量上,接收机测试战略则通常涉及一项测试:抖动容限。抖动容限保证接收机系统将以高置信度与其它产品互操作。互操作

手把手教你如何进行USB3.0发射机测试

一致性测量通过使用图4(http://blog.chinaaet.com/detail/33774.html)列出的各种测试码型,可以方便地进行发射机测试。每种码型都是为与评估码型的测试有关的特点选择的。CP0(D0.0加扰序列)用来测量确定性(Dj)抖动,如数据相关抖动(DDJ);CP1(没有加扰的D10.2全

EMI测试那点事——利用MDO诊断风扇EMI超标问题(案例分析)

时间:2012年11月21日地点:上海浦西某实验室待测试设备:某型号风扇测试仪器:泰克MDO4104-3+近场探头面临的问题:产品研发成功后,需通过EMI标准测试。之前已经将产品送出去测试了3次,每次测试的花费都在1万人民币,却始终没有通过。检测机构给出的报告也只告

EMI测试那点事

EMI定义:电磁兼容(EMC)包括电磁干扰(EMI)和电磁抗扰度(EMS)两部分。简而言之,EMI是电子设备对外部电磁环境的干扰,EMS是电子设备抵抗外部电磁环境干扰的能力。无论是EMI还是EMS,都包括辐射和传导两部分。EMC认证是任何电子设备必须遵从的,EMI是EMC中的重要部分。&nb

主要的高速串行接口技术及测试解决方案

前一篇博文《干货分享——可能会对高速数据传输造成损害的因素以及测试过程分析》(链接http://blog.chinaaet.com/detail/33343.html)概述了高速串行技术的现状,并具体分析了可能会对传输信号质量造成损害的因素和典型的高速串行数据测试过程。本文将介绍当前主要的高

干货分享——可能会对高速数据传输造成损害的因素以及测试过程分析

多年来,宽同步并行总线已成为数字设备之间进行数据交换的主要技术手段。通过并行移动多个比特,这些数据总线技术好像比串行(顺序)传输技术的通信速度更快。但遗憾的是,并行总线定时同步(时滞)在时钟频率和数据传输率较高时存在严重的问题,这明显限制了并行总线传

紧跟存储技术发展趋势,了解下一代DDR验证和调试技术

作者:ChrisLoberg泰克高级技术市场经理随着JEDEC最近发布LPDDR3和DDR4规范,转向下一代内存技术的趋势在加速。首先是LPDDR3,它将在移动设备和超薄笔记本电脑中代替LPDDR2,并将于2014年开始商业部署。然后出现的是新的同步DDR4规范,也就是下一代DRAM,用

使用MATLAB和任意波形发生器创建高性能激励测试系统

作者:ChrisLoberg泰克高级技术市场经理测试工程师面临的极具挑战性的任务之一,是为测试PCB原型或硅转生成激励信号,或为RF技术定义复杂的高频调制信号。尽管在工作台上摆满脉冲发生器、函数发生器、调制发生器和RF发生器也不失为一种方法,但使用任意波形