EMI测试那点事——高速数据引起的EMI问题（案例分析）
时间：2011年11月17日地点：西安某公司待测试设备：某电子设备电路板测试仪器：泰克MDO4104-6+近场探头面临的问题：该电子设备为300MHz频段专用的无线通信设备，EMC认证没有问题，但该设备自身工作并不正常，以前曾用频谱仪配近场探头测试过，发现在嵌入式射频发
发表于 10/8/2013 4:16:12 PM
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你所了解和不了解的USB2.0、USB3.0结构与测试那些事
USB2.0历史通用串行总线已经被公认为连接个人电脑和其它外围设备的事实上的标准。USB2.0于2000年问世，其速度较传统USB1.1规范提高了40倍。这一规范对数据更加密集的应用打开了大门，改善了用户体验。尽管低速(1.5Mb/s)和全速(12Mb/s)速率对键盘或鼠标之类的设备已经足
发表于 9/25/2013 11:08:44 AM
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EMI测试那点事——利用MDO 测试高速数据引起的EMI问题（案例分析）
时间：2012年11月16日地点：华北电力大学待测试设备：某视频信号处理设备电路板测试仪器：泰克MDO4104-6+BNC电缆面临的问题：本案例中的客户与案例三和案例四是同一客户，但被测电路板不同，本次测试该客户另一款视频信号处理单元的电路板。众所周知，视频信号对
发表于 9/17/2013 4:12:07 PM
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EMI测试那点事——利用MDO 地线布局不合理引起的EMI问题（案例分析）
时间：2012年11月16日地点：华北电力大学待测试设备：某电子设备电路板(与案例三为同一个设备)测试仪器：泰克MDO4104-6+BNC电缆面临的问题：在找到案例三中的问题后，我们立刻想到，既然电源纹波会影响设备性能，地线上是否也会由于布线不合理而存在该开关电源纹
发表于 9/10/2013 10:44:41 AM
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EMI测试那点事——利用MDO 测试开关电源引起的EMI问题（案例分析）
时间：2012年11月16日地点：华北电力大学待测试设备：某电子设备电路板测试仪器：泰克MDO4104-6+BNC电缆面临的问题：该电子设备电路板为直径15厘米的圆形，放置于金属屏蔽壳内，EMC认证没有问题，但该设备自身工作并不正常，怀疑是开关电源纹波造成的影响。
发表于 9/3/2013 2:49:04 PM
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EMI测试那点事——利用MDO 诊断无线POS 机EMI 问题（案例分析）
时间：2013年3月17日地点：深圳某公司待测试设备：某正在研发阶段无线POS机测试仪器：泰克MDO4104-6+近场探头面临的问题：该无线POS机已经在该公司初步研发成型，由于该产品要利用中国移动900MGSM网络传输刷卡信息，除了EMC认证标准外，还要对移动通信性能指标进
发表于 8/27/2013 5:40:28 PM
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EMI测试那点事——利用MDO诊断风扇EMI超标问题（案例分析）
时间：2012年11月21日地点：上海浦西某实验室待测试设备：某型号风扇测试仪器：泰克MDO4104-3+近场探头面临的问题：产品研发成功后，需通过EMI标准测试。之前已经将产品送出去测试了3次，每次测试的花费都在1万人民币，却始终没有通过。检测机构给出的报告也只告
发表于 8/20/2013 3:23:38 PM
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EMI测试那点事
EMI定义：电磁兼容(EMC)包括电磁干扰(EMI)和电磁抗扰度(EMS)两部分。简而言之，EMI是电子设备对外部电磁环境的干扰，EMS是电子设备抵抗外部电磁环境干扰的能力。无论是EMI还是EMS，都包括辐射和传导两部分。EMC认证是任何电子设备必须遵从的，EMI是EMC中的重要部分。&nb
发表于 8/16/2013 3:38:07 PM
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您应该了解的高速串行数据下一代测试解决方案
前两篇博文《干货分享——可能会对高速数据传输造成损害的因素以及测试过程分析》（http://blog.chinaaet.com/detail/33343.html）和《主要的高速串行接口技术及测试解决方案》（http://blog.chinaaet.com/detail/33404.html）分别分析了可能会对传输信号质量造成
发表于 8/6/2013 10:41:57 AM
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主要的高速串行接口技术及测试解决方案
前一篇博文《干货分享——可能会对高速数据传输造成损害的因素以及测试过程分析》（链接http://blog.chinaaet.com/detail/33343.html）概述了高速串行技术的现状，并具体分析了可能会对传输信号质量造成损害的因素和典型的高速串行数据测试过程。本文将介绍当前主要的高
发表于 7/30/2013 10:58:51 AM
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干货分享——可能会对高速数据传输造成损害的因素以及测试过程分析
多年来，宽同步并行总线已成为数字设备之间进行数据交换的主要技术手段。通过并行移动多个比特，这些数据总线技术好像比串行（顺序）传输技术的通信速度更快。但遗憾的是，并行总线定时同步（时滞）在时钟频率和数据传输率较高时存在严重的问题，这明显限制了并行总线传
发表于 7/23/2013 3:49:43 PM
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紧跟存储技术发展趋势，了解下一代DDR验证和调试技术
作者：ChrisLoberg泰克高级技术市场经理随着JEDEC最近发布LPDDR3和DDR4规范，转向下一代内存技术的趋势在加速。首先是LPDDR3，它将在移动设备和超薄笔记本电脑中代替LPDDR2，并将于2014年开始商业部署。然后出现的是新的同步DDR4规范，也就是下一代DRAM，用
发表于 7/16/2013 11:08:49 AM
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使用MATLAB和任意波形发生器创建高性能激励测试系统
作者：ChrisLoberg泰克高级技术市场经理测试工程师面临的极具挑战性的任务之一，是为测试PCB原型或硅转生成激励信号，或为RF技术定义复杂的高频调制信号。尽管在工作台上摆满脉冲发生器、函数发生器、调制发生器和RF发生器也不失为一种方法，但使用任意波形
发表于 7/9/2013 10:10:56 AM
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全面认识逻辑分析仪（下）
分析和显示结果逻辑分析仪实时采集内存中存储的数据，可以用于各种显示和分析模式。一旦信息被存储在系统中，它可以以多种格式查看，从定时波形直到与源代码相关的指令助记符。波形显示画面是一种多通道详细视图，允许用户查看捕获的所有信号的时间关系，在很大程度上与
发表于 7/2/2013 9:55:48 AM
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全面认识逻辑分析仪（上）
特邀博主：ChrisLoberg对许多应用来说，现代逻辑分析仪可以比其它仪器在更短的时间内找到造成麻烦的根本原因。逻辑分析仪是一种多功能工具，可以帮助工程师进行数字硬件调试、设计检验和嵌入式软件调试。然而，许多工程师本应在使用逻辑分析仪时却使用了数
发表于 6/25/2013 9:50:19 AM
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