EMI测试那点事——利用MDO 地线布局不合理引起的EMI问题（案例分析）
时间：2012年11月16日地点：华北电力大学待测试设备：某电子设备电路板(与案例三为同一个设备)测试仪器：泰克MDO4104-6+BNC电缆面临的问题：在找到案例三中的问题后，我们立刻想到，既然电源纹波会影响设备性能，地线上是否也会由于布线不合理而存在该开关电源纹
发表于 2013/9/10 上午10:44:41
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EMI测试那点事——利用MDO 测试开关电源引起的EMI问题（案例分析）
时间：2012年11月16日地点：华北电力大学待测试设备：某电子设备电路板测试仪器：泰克MDO4104-6+BNC电缆面临的问题：该电子设备电路板为直径15厘米的圆形，放置于金属屏蔽壳内，EMC认证没有问题，但该设备自身工作并不正常，怀疑是开关电源纹波造成的影响。
发表于 2013/9/3 下午2:49:04
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EMI测试那点事——利用MDO诊断风扇EMI超标问题（案例分析）
时间：2012年11月21日地点：上海浦西某实验室待测试设备：某型号风扇测试仪器：泰克MDO4104-3+近场探头面临的问题：产品研发成功后，需通过EMI标准测试。之前已经将产品送出去测试了3次，每次测试的花费都在1万人民币，却始终没有通过。检测机构给出的报告也只告
发表于 2013/8/20 下午3:23:38
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您应该了解的高速串行数据下一代测试解决方案
前两篇博文《干货分享——可能会对高速数据传输造成损害的因素以及测试过程分析》（http://blog.chinaaet.com/detail/33343.html）和《主要的高速串行接口技术及测试解决方案》（http://blog.chinaaet.com/detail/33404.html）分别分析了可能会对传输信号质量造成
发表于 2013/8/6 上午10:41:57
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主要的高速串行接口技术及测试解决方案
前一篇博文《干货分享——可能会对高速数据传输造成损害的因素以及测试过程分析》（链接http://blog.chinaaet.com/detail/33343.html）概述了高速串行技术的现状，并具体分析了可能会对传输信号质量造成损害的因素和典型的高速串行数据测试过程。本文将介绍当前主要的高
发表于 2013/7/30 上午10:58:51
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干货分享——可能会对高速数据传输造成损害的因素以及测试过程分析
多年来，宽同步并行总线已成为数字设备之间进行数据交换的主要技术手段。通过并行移动多个比特，这些数据总线技术好像比串行（顺序）传输技术的通信速度更快。但遗憾的是，并行总线定时同步（时滞）在时钟频率和数据传输率较高时存在严重的问题，这明显限制了并行总线传
发表于 2013/7/23 下午3:49:43
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紧跟存储技术发展趋势，了解下一代DDR验证和调试技术
作者：ChrisLoberg泰克高级技术市场经理随着JEDEC最近发布LPDDR3和DDR4规范，转向下一代内存技术的趋势在加速。首先是LPDDR3，它将在移动设备和超薄笔记本电脑中代替LPDDR2，并将于2014年开始商业部署。然后出现的是新的同步DDR4规范，也就是下一代DRAM，用
发表于 2013/7/16 上午11:08:49
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使用MATLAB和任意波形发生器创建高性能激励测试系统
作者：ChrisLoberg泰克高级技术市场经理测试工程师面临的极具挑战性的任务之一，是为测试PCB原型或硅转生成激励信号，或为RF技术定义复杂的高频调制信号。尽管在工作台上摆满脉冲发生器、函数发生器、调制发生器和RF发生器也不失为一种方法，但使用任意波形
发表于 2013/7/9 上午10:10:56
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全面认识逻辑分析仪（下）
分析和显示结果逻辑分析仪实时采集内存中存储的数据，可以用于各种显示和分析模式。一旦信息被存储在系统中，它可以以多种格式查看，从定时波形直到与源代码相关的指令助记符。波形显示画面是一种多通道详细视图，允许用户查看捕获的所有信号的时间关系，在很大程度上与
发表于 2013/7/2 上午9:55:48
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全面认识逻辑分析仪（上）
特邀博主：ChrisLoberg对许多应用来说，现代逻辑分析仪可以比其它仪器在更短的时间内找到造成麻烦的根本原因。逻辑分析仪是一种多功能工具，可以帮助工程师进行数字硬件调试、设计检验和嵌入式软件调试。然而，许多工程师本应在使用逻辑分析仪时却使用了数
发表于 2013/6/25 上午9:50:19
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小贴士和小窍门——使用混合域示波器进行频谱分析
使用MDO(混合域示波器)在频域中执行测量简单明了，设置简便。但与任何频谱分析仪一样，为了实现最好的测量效果，有一些东西不要忘了。下面这些小贴士和小窍门可以让您获得最好的结果。小提示1：“从上到下”—在MDO上设置频域测量时，有一种简单的方法，可以记住所有步
发表于 2013/5/28 下午5:17:18
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那些年，我曾“追”过的示波器
本文由网友“zhige”发布于http://www.infineonic.org/songge/blog/12-11/288712_1bad3.html（原标题：【话说这台示波器】……曾经的宝贝疙瘩示波器--泰克TDS210），本博客经作者同意授权原文转载。自从搞电子技术以来，我用过三台示波器，有幸的是这三台示波器属于三代
发表于 2013/5/21 上午10:13:34
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参观俄勒冈州立大学工程实验室所见所感
上周，我来到可爱的俄勒冈州科瓦利斯，欢度“父亲周末”，并有幸参观了俄勒冈州立大学工程实验室，探寻泰克的踪迹，我的确找到了。俄勒冈州立大学是一家颇具实力的工程学院，在为泰克输送人才方面拥有悠久的历史，距泰克只有一个半小时的路程。我走了几个工程实验室教室
发表于 2013/5/14 上午10:04:23
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低功率测量技术——三大实用小贴士
当今智能手机最重要的特色并不是那些华而不实的功能，而是基础得多的特性：电池能用多长时间？遗憾的是，电池技术跟不上工程师们的步伐，他们创造出拥有多块大功率多核处理器和多个无线电的掌上电脑。在服务器一侧，即使能耗的一点点下降，也会给为云提供动力的海量运行
发表于 2013/5/7 下午12:48:45
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进行定量串行测试还是定性串行测试？
ChrisLoberg泰克公司高级技术市场经理当前串行通信链路评估结果最终取决于BER(误码率)性能–到达链路目的地的误码有多少个。就像您在学校进行的测试一样，BERT(BER测试仪)计算所有比特，告诉您链路的测试得分，比如10分中的9分或10分中的1分。遗憾的是，这种测试
发表于 2013/4/16 下午5:16:34
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