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越测越开心

MDO4000混合域示波器结构解密(中)

MDO优于传统频谱仪对于MDO4000混合域示波器上的RF专用通道,第一个值得注意的是它所提供的频谱捕获带宽。从以上关于传统扫频式频谱仪到矢量信号分析仪的描述中我们知道它们所能提供的频谱捕获带宽都比较窄,一般在10MHz范围左右,最昂贵的、最好的也只提供大约150

MDO4000混合域示波器结构解密(上)

邓锦辉,泰克大中华区技术营销经理MDO4000混合域示波器是近20年来示波器市场最大的技术突破与创新,它拥有相当独特的结构,泰克科技公司在发明与设计MDO4000混合域示波器其间,共申请了二十多项专利,显明它与一般传统的频谱分析仪或示波器的结构有异。不少人误以

当RF遇到模拟信号和数字信号-嵌入式系统新状况

我经常听人们谈论新的“无线世界”,大量的无线设备已经改变了我们的日常生活。无线玩具、无线灯开关、家庭安全系统、家庭娱乐、RFID标签、指尖的无线数据等等,这些只是我们日益使用、日益依赖的无线设备和无线应用的一部分。在查找某些数

当RF遇到模拟信号和数字信号–在多个域中触发

特邀博主FarideAkretch在调试嵌入式系统时,问题经常会回溯到异常信号,这个信号会导致一连串事件,最终导致系统故障。异常信号极有可能源自整个设计内部的某个地方。我们通常假设你的设计遇到问题,可以回溯到数字信

RF遇到模拟信号和数字信号–EMI测试

特邀博主FarideAkretch当前,对工程师们来说,EMI(电磁干扰)和EMC(电磁兼容性)即使不算灾难,也算是非常棘手的任务。这是因为如果没适当的工具,找到略微超出极限的、讨厌的EMI辐射的来源可能会非常麻烦,这种EMI辐射可能会横跨RF信号、

查找射频嵌入式系统中的噪声来源

在把射频芯片或模块集成到典型的嵌入式系统中时,设计人员必须面临的一项常见任务是追踪和消除噪声和杂散信号。潜在的噪声来源包括:开关电源、来自系统其它部分的数字噪声、以及外部噪声来源。在考虑噪声时,还应考虑射频电路产生的任何可能的干扰,

泰克高速试验室BERTScope免费测试活动全记录

不久前,泰克科技在上海、深圳、北京三地的高速实验室举办USB、PCIe、SATA/SAS和HDMI接收机免费测试活动,测试设备的主角是强大且价格不菲的BERTScope。泰克科技的这种“高速实验室开放日”活动在美国已经举办过一定年头了,这是首次

存在串扰时的抖动和定时分析(2)

作者ChrisLoberg串扰问题为实现性能目标,大多数串行系统采用多条通路。随着频率和数据速率提高到10Gb/s以上,少量的串扰就会吃光抖动预算,产生定时问题。在一个信号受到相邻信号影响时,会发生串扰。在数据速率很高时,信

存在串扰时的抖动和定时分析(1)

ChrisLoberg串行数据标准数量不断激增,明显改善了PC和服务器系统的性能。对这些更高速的标准执行测试,找到抖动迹象对设计的长期稳定性及实现优秀的误码率(BER)目标至关重要。要进行高效分析,首先要选择正确的仪器,要很好地了解仪器噪声、上

频域窗口(第3部分)

特邀博主GinaBonini泰克公司技术市场经理Gina在测试测量领域拥有超过15年的经验,先后担任多种职位,包括产品规划、产品行销以及业务和市场拓展。她毕业于伯克里加里福尼亚大学电子专业及斯坦福大学电气工程专业,分别获得理学学士和理学硕士学位。在

频域窗口(第2部分)

特邀博主GinaBonini泰克公司技术市场经理Gina在测试测量领域拥有超过15年的经验,先后担任多种职位,包括产品规划、产品行销以及业务和市场拓展。她毕业于伯克里加里福尼亚大学电子专业及斯坦福大学电气工程专业,分别获得理学学士和理学硕士学位。在

他们,保留住经典示波器的那段历史

特邀博主:GinaBonini泰克公司技术市场经理Gina在测试测量领域拥有超过15年的经验,先后担任多种职位,包括产品规划、产品行销以及业务和市场拓展。她毕业于伯克里加里福尼亚大学电子专业及斯坦福大学电气工程专业,分别获得理学学士和理学硕士学位。

泰克MDO4000混合域示波器应用案例分析四——RF模块功能验证及调试

作者:侯东飚沈阳贝海瀛科技有限公司信号干扰问题一直困扰着工程师,其已经成为电路设计工程师不可避免的问题。串扰是指有害信号从一个网络转移到另一个网络,它是信号完整性问题中一个重要问题,在数字设计中普遍存在,有可能出现

泰克MDO4000混合域示波器应用案例分析三——铁路干扰信号检测的一次成功拜访演示

客户:铁科院通信信号研究所关于通信信号研究所通信信号研究所是铁道科学研究院(铁科院)下属的铁路通信信号技术领域具有科研、开发、生产、销售、服务整体功能的高科技企业。通号所设有行车指挥自动化、车站计算机联

示波器频域的窗口技术

特邀博主GinaBonini泰克公司技术市场经理Gina在测试测量领域拥有超过15年的经验,先后担任多种职位,包括产品规划、产品行销以及业务和市场拓展。她毕业于伯克里加里福尼亚大学电子专业及斯坦福大学电气工程专业,分别获得理学学士和理学硕士学位。&n
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