低电平测量的三同轴电缆和保护连接
如前所述，当我们把保护电压连到同轴电缆[1]的屏蔽时，如果该保护电压大于30V有效值，就可能出现安全风险。三同轴电缆用连至大地或LO端的外层屏蔽将保护屏蔽包围起来，从而避免了这种危险。当静电计按无保护方式工作时，三同轴电缆的连接方法一般如下：*中心导体：高阻
发表于 10/12/2011 10:40:41 AM
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低电平测量常用的连接器类型
静电计、皮安计和SMU[1]的测量工作中使用两种通用类型的连接器。图2-55所示的BNC连接器[2]是一种同轴连接器。它包括中心导体和外壳或屏蔽连接，而图2-56所示的三同轴连接器则包括中心导体、内屏蔽和外屏蔽。BNC连接器的中心导体连到输入HI端，而外壳连到输入LO端。注意
发表于 10/11/2011 11:09:32 AM
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低电平测量对电缆的要求【吉时利技术共享】
电缆要求虽然数字多用表常常使用无屏蔽的测试引线，但是这种连接方式在使用皮安计、静电计和SMU等进行低电平测量时一般是不合适的。这些仪器通常使用同轴电缆[1]或三同轴电缆[2]。同轴电缆由屏蔽包围的单芯导体组成（图2-54a
发表于 10/10/2011 11:18:22 AM
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静电计如何用恒流法测量大于1GΩ的高电阻？
采用恒流法[1]，可以使用静电计电压表和电流源或者只使用静电计欧姆计来测量高电阻。也可以使用具有高输入阻抗的电压表和微电流源的SMU来进行测量。使用带有分立的电流源的静电计电压表或SMU[2]时，用户能够进行四线测量并控制流过样品的电流。静电计欧姆计依据测量的量
发表于 10/9/2011 10:27:14 AM
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静电计如何用恒压法测量大于1GΩ的高电阻？
恒压法[1]测量高电阻，需要使用一台能够测量弱电流的仪器和一台直流恒压源。有些静电计和皮安计[2]具有内置的电压源，能够自动地计算出未知电阻。使用静电计和皮安计的恒压法的基本电路配置如图2-30a所示。而图2-30b则示出了使用SMU[3]，采用恒压法进行高电阻测量的情况
发表于 10/8/2011 5:09:24 PM
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运用直流翻反转测量法—提升测试测量效果
传统的锁定放大器[1]适用于许多测量应用。但其共模抑制比和低输入阻抗将其低功率电阻测量范围限制在100mΩ至1MΩ。通常它们都采用用户自制的电流源，而这个电流源难以随着负载的变化而进行控制，因此精度不高。测量结果以电流和电压读数的形式显示，需
发表于 9/29/2011 11:29:38 AM
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噪声、外加功率及测量时间的考量——低功率纳米技术及其它敏感器件的交流与直流测量方法
要考虑噪声误差，理想的测试系统的信噪比应为100。图9显示了不同阻值的测试对象在半秒的测试时间内，为使电压响应达到100倍测量系统均方根噪声值的电压响应时，所需要的外加测量功率。这些曲线分别是使用锁定放大器[1]法及直流反转法[2]的测量设置得到的数据。对于锁定
发表于 9/29/2011 11:19:23 AM
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单一仪器噪声比较——低功率纳米技术及其它敏感器件的交流与直流测量方法的比较
所有的电子线路都会产生白噪声和1/f噪声[1]。低频测量噪声通常主要由后者决定。锁定放大器的前端通常是1/f噪声的主导源。使用在直流反转法的仪器具有同样的问题。因此，比较锁定放大器与使用直流反转法仪器的噪声性能，实际上是比较它们前端电路的噪声性能。此外，对比
发表于 9/27/2011 5:14:49 PM
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中等电阻的测量——低功率纳米技术及其它敏感器件的交流与直流测量方法的比较
传统上，锁定放大器用来测量100mΩ至1MΩ的电阻，超出这个范围的话限制就会比较明显。即使测试电阻在这个范围内，使用直流反转法[1]的新仪器也能提供优势。举例来说，锁定放大器比直流反转系统具有两倍（或更高）的白噪声，1/f电压噪声[2]更是后者的10倍以上
发表于 9/27/2011 10:49:03 AM
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大电阻的测量2—低功率纳米技术 及其它敏感器件的交流与直流测量方法的比较
相比之下，纳伏表[1]具有1000倍高的输入阻抗（也就是10GΩ），因此它可以以±1%精度来测量高于1GΩ的电阻。（消除10GΩ的负载影响只需将输入阻抗精确到±10%，以开路作为测试对象，通过直流反转测量的方法即可得到。）此外，一些电流源提供
发表于 9/26/2011 11:14:26 AM
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低功率纳米技术及其它敏感器件的交流与直流测量方法的比较——大电阻的测量1
目前，大于10kΩ的被测电阻是对电流噪声和输入负载误差[1]方面的挑战。因电压噪声与测试对象的电阻成比例，电流噪声就会非常明显。在锁定放大器法和直流反转系统中，电流噪声来自于测量电路，在流经测试对象和/或引线电阻时会产生额外的直流和交流电压。对于这两种
发表于 9/22/2011 10:26:26 AM
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低功率纳米技术及其它敏感器件的交流与直流测量方法的比较——低电阻被测器件的测量2
不考虑进行交流测量的仪器，测试电流流经电源引线，从而在接地点到测试对象的连接中产生电压降[1]，如图节点A。因此，A点电压会以ITEST×RLEAD为幅度上下波动，而VMEASURE输入检测一个更小的交流电压ITEST×RDUT。在这一类测量电路的连接中，共模抑制比
发表于 9/21/2011 11:06:04 AM
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低功率纳米技术及其它敏感器件的交流与直流测量方法的比较——低电阻被测器件的测量
同样的技术，改善测量仪器的硬件。正如我们所看到的，锁定放大器法和直流反转法都是交流测量方法，这两种方法都可排除直流噪声[1]和高频噪声。然而，纳伏表及电流源组合可以在设备的整个电阻测量内提供超级的测量能力，如下面章节所解释的一样。图4所示为典型的低
发表于 9/20/2011 5:33:35 PM
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低功率纳米技术与直流测量方法的比较——直流反转监测法2
使用三个电压测量进行数学计算就可能去除热电动势[1]电压偏置项(VEMF)和热电动势电压变化项(δV)。首先，求出前两次电压测量差的一半，并称其为VA：VA=(VM1–VM2)/2=[(VDUT+VEMF)–(–VDUT+VEMF+δV)]/2=VDUT–δ/2同样地，求
发表于 9/19/2011 10:36:33 AM
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低功率纳米技术及其它敏感器件的交流与直流测量方法的比较——直流反转监测法1
直流反转方法[1]则使用一个可反转极性的直流源，测试对象的响应则通过一个纳伏表来测量。过去，直流反转监测法在大部分测量仪器上都需要手动操作，这将反转速度限制在低于1Hz。如今的仪器则使这种技术自动化并提高了反转速度。反转速度设定了主导噪声的频率。更高
发表于 9/16/2011 3:38:53 PM
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