下一代纳米级IC卓越的性价比测量解决方案
昨天与大家详细讲解了KZ100探测仪中吉时利4200半导体特性分析系统的运用，今天我们来一起探讨下测试下一代集成电路的纳米级IC测量解决方案尖细金属线测试集成电路将被哪项新技术手段代替？多年以来，在光学显微镜下利用尖细金属线探测集成电路(IC)，已经成
发表于 1/5/2012 4:42:20 PM
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KZ100探测仪中的“科普彗星”--吉时利4200半导体特性分析系统
吉时利4200半导体特性分析系统用于偏置探针以及采集集成电路器件漏电流和漏源电压(IDVDS)数据。该系统配备4个4200-SMU[1](源-测量单元)以及三轴线缆。在扫描模式下，将速度设置为快速，可以获得IDVDS曲线。源电流[2]（IS）和漏电流（ID）的电流上限都被设置为500µ
发表于 1/4/2012 2:30:16 PM
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贴士：脉冲IV测试有讲究
之前，与大家聊了那么多关于脉冲IV测试的内容；今天，为大家总结了进行脉冲IV测试的几点注意事项：（好好收藏，一生享用！）确认连接：在连接到设备之后，执行任何脉冲测试前，使用scope-shot进行第一次测试以确认到DUT[1]的连接是正确的。改变任何设置（新的探针针尖、
发表于 12/29/2011 12:32:17 PM
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脉冲IV测试结果与直流结果比较
使用KITE[1]的sheet选项页中易于获取的数据，那么在测试结果之间进行比较就非常简单。这个过程说明了如何将直流结果复制到一个脉冲UTM[2]，允许在一个图形中比较脉冲和直流IV结果。双击项目导航栏中的Vgs-idITM[3]。单击sheet选项页选择期望结果的工作表。如果只有一套
发表于 12/28/2011 11:22:57 AM
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如何运行scope-shot？
Scope-shot（图1）用来验证正确的连接和系统设置。图1所示的波形是一个典型的测试结果，实际结果应该与此相似。如果波形具有显著的振铃或过冲，脉冲IV测试将不会提供良好的结果。检查脉冲的互连以确保适当的电缆，并确保所有连接牢固可靠。如果使用4200-PRB-C[1]（Y适配
发表于 12/27/2011 11:09:14 AM
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默认“Vgs–id”与直流“Vgs-id”设置一致
运行Vds–idDCITM默认的门极扫描脉冲[1]是0-2V，50mV为一个步长，将漏极电压[2]设置为1V（图1，2）。当改变这些设置时，请注意，用于电压和步长的设置可以用于Vgs-id-pulse[3]测试的设置。图1.直流Vgs-idITMdefinition选项页图2.直流Vds-idITMGr
发表于 12/26/2011 11:17:53 AM
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“Vds-id”门级电压步步高
运行Vds-idDCITM漏极[1]扫描电压的默认设置是0-4V，以100mV为一个步长，同时门极电压有三级：1.5，2.0，2.5V（图1，图2）。当改变这些设置时，请注意，电压和步长的设置可以用于Vds-id-pulse测试的设置。图1.直流VDS-IDITMGr
发表于 12/23/2011 3:38:02 PM
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“迈步在脉冲测试之前”—脉冲校准
运行AutocalScope在进行任何脉冲[1]校准之前，应运行AutocalScope。为了获得最佳的脉冲IV结果，也应在当天的第一个实验之前运行AutocalScope。1.4200-SCS[2]必须在开机30分钟后才可以进行任何校准或测量。2.在项目导航栏（图1）中双击AutocalScope。图1.4200Pulse
发表于 12/21/2011 4:01:23 PM
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第一次使用吉时利4200半导体参数分析仪测量时的PulseIV-Complete
如上文所提及的连接4200–PIV[1]。如果没有运行KITE，双击4200桌面上的KITE图标来启动KITE。打开PulseIV-Complete项目，或单击FILE>Openproject>ifnecessary，在打开的项目文件窗口中向上移动一层来显示项目目录。双击PulseIV-Complete文件夹，然后双击Pulse
发表于 12/21/2011 2:29:04 PM
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需牢记的脉冲IV测试的设置步骤
应用4200脉冲IV测量CMOS晶体管进行脉冲IV测试时，步骤如下：设置4200-SCS，参考4200-SCS[1]的快速入门指南[2]和4200-SCS的参考手册[3]。设置和连接4200-PIV[4]。对于4200–PIV的设置，请参阅4200-SCS应用手册[5]及图1和图2。使用提供的扭矩扳手进行4200-RBTs上SMA
发表于 12/20/2011 3:50:11 PM
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4200脉冲IV测量CMOS晶体管时探针如何互连？
4200-PIV包[1]无需重新布线或切换，可以给DUT[2]引脚提供直流和脉冲能力。这种能力的关键是4200-RBT远程偏置T型接头，它采用无源电器元件将低频直流信号和高频脉冲信号相结合。4200-RBT的连线是SMA同轴电缆，它将连接到很多RF和直流探针设备上。直流探针互连对于直流结
发表于 12/19/2011 11:22:18 AM
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scope-shot用户测试模块（UTM），您了解多少呢？
scope-shot用户测试模块[1]（UTM）是一个通用的实用工具，用于验证，调试和样机的瞬态测试。UTM以固定值的方式给DUT门施加了一个脉冲链，给DUT的漏极施加一个直流偏置。返回的数据是示波器[2]的波形数据，如图13所示。图13.Scope-shot选项页显
发表于 12/16/2011 3:51:13 PM
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图释4200脉冲IV测量CMOS晶体管中直流Vgs-id测试
本文以图示的方式与大家分享直流Vgs-id测试的步骤：传统的只有直流的Vgs-id和通过4200-RBT，偏置T型接头的直流IV测试之间的主要区别是SMU的数量。通过偏置T型接头进行的直流IV测试，使用2个SMU，其源和本体连接到地（SMA的同轴电缆屏蔽层）。在4200脉冲IV测量CMOS晶体管
发表于 12/15/2011 5:54:20 PM
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脉冲Vds-id 的测试参数
漏极电压Vd，从0至4V进行扫描，在每个Vd扫描之后，门极电压Vg步进到下一个数值。传统的只有直流的Vds-id和通过4200-RBT偏置T型接头的直流IV测试之间的主要区别是SMU的数量。通过偏置T型接头进行的直流IV测试，使用2个SMU[2]，其源和本体连接到地（SMA的同轴电缆屏蔽层）
发表于 12/14/2011 5:56:50 PM
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4200脉冲IV测量CMOS晶体管初始化测试
AutocalScope–运行4200-SCP2[1]自校准和偏移测量的程序。在每一个PulseIVcal[2]之前，应该运行此程序，并定期捕获SCP2的任何漂移。它要求从示波器中删除所有的连接，这个过程大概约需1分钟。DivIderCal-校准功率分配器。没有必要使用CAL，这是因为分频器在
发表于 12/13/2011 1:41:45 PM
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