C-V测量技术、技巧与陷阱——C-V测量技术连接与校正 I
尽管很多C-V测量技术本身相对简单，但是以一种能够确保测量质量的方式实现C-V测试仪与探针台的连接却不是那么简单。目前探针台使用的机械手和探针卡多种多样，当我们试图在一个探针台上同时支持I-V、C-V和脉冲式或超快I-V测量时，它们就会带来一些实际的问题。当进行I-V
发表于 7/29/2011 10:35:46 AM
阅读（2925）
C-V测量技术、技巧与陷阱——C-V测量参数提取的局限性
在探讨C-V测试系统的配置方法之前，了解半导体C-V测量技术[1]的局限性是很重要的：电容：从<10fF到1微法电阻：从<0.1欧姆到100M欧姆小电感：从<1nH到10mH栅介质：可以提取的等价栅氧厚度范围从不到10纳米到几百纳米。可以检测出的电介质玷污浓度从每平方厘米5e
发表于 7/28/2011 10:14:21 AM
阅读（2133）
C-V测量技术、技巧与陷阱—— C-V测量方法与应用的匹配
交流阻抗技术是最常用的电容测量技术[1]。它最适合于一般的低功率门电路，也适用于大多数测试结构和大多数探针。其优势在于所需的设备相对便宜，大多数电子实验室都可以直接找到。但是，它也有一些缺点，例如它的校正方法不如射频测量中使用的校正方法那样精确。另外一
发表于 7/27/2011 5:23:39 PM
阅读（32358）
C-V测量技术、技巧与陷阱——基于数字源表的准静态电容测量
在准静态电容测量[1]中，我们通过测量电流和电荷来计算电容值。这种“斜率”方法使用简单，但是它的频率范围有限（1～10Hz），因而只能用于一些特殊情况下。SMU1-力常数SMU2-测量图3.准静态C-V“斜率”测量方法斜率测量方法只需要使用
发表于 7/26/2011 10:48:07 AM
阅读（3727）
C-V测量技术、技巧与陷阱——交流阻抗电容计以及交流阻抗参数的测量方法
交流阻抗表[1]，也称为LCR表[2]（电感[L]、电容[C]、电阻[R]），利用一个自动平衡电桥保持电容的检测端交流假接地，从而测量复阻抗。这类电表通常的频率范围为1kHz到10MHz。交流电源、交流伏特计、交流安培计图1.交流阻抗表这类电表（如图1所示）工作原理相对简单。它通
发表于 7/25/2011 10:43:55 AM
阅读（4348）
C-V测量技术、技巧与陷阱概述
在之前的文章“半导体C-V测量基本原理[1]”中曾经谈到过，电容-电压测试长期以来被用于判断多种不同器件和结构的各种半导体参数，范围从MOSCAP、MOSFET、双极结型晶体管[2]和JFET到III-V族化合物器件、光伏（太阳能）电池[3]、MEMS器件、有机薄膜晶体管（TFT
发表于 7/22/2011 10:22:14 AM
阅读（2956）
生产环境下高亮度LED的高精度高性价比测试——最大限度减少LED测试误差
CommonsourcesofmeasurementerrorinLEDproductiontestingincludeleadresistance,leakagecurrent,electrostaticinterference,andlightinterference,butjunctionself-heatingisoneofthemostsignificanterrorsources.Thetwotestssusceptibletojunctionheatingaretheforward
发表于 7/21/2011 10:02:43 AM
阅读（2758）
生产环境下高亮度LED的高精度高性价比测试——多器件/阵列的LED测试系统
Inmultipledevicetests,suchasthosethatinvolveburn-in,multiplepartsaremeasuredsimultaneouslyoveraspecifiedperiod.AcontinuouscurrentflowisusuallymandatorytodrivetheDUTs,butmultiplelightdetectorsmaybemultiplexedtoacurrentmeterthroughaswitchingsystem.Thea
发表于 7/20/2011 10:58:51 AM
阅读（2621）
生产环境下高亮度LED的高精度高性价比测试——单LED器件测试系统
Figure2isasimplifiedblockdiagramofasystemfortestingasingleLED.Forautomationpurposes,aPCandacomponenthandler—aprobestationforon-wafermeasurements—aretypicallyincluded.图2是测试单个LED的测试系统简化模块图。对于自动化测试，通常包含一台
发表于 7/19/2011 10:39:16 AM
阅读（2942）
生产环境下高亮度LED的高精度高性价比测试——智能仪器增大LED生产测试产能
SmartInstrumentsIncreaseLEDProductionTestThroughputInthepast,aPCoftencontrolledallaspectsofthetestinmanyLEDproductiontestsystems.Inotherwords,ineachelementofatestsequence,thesourcesandinstrumentshadtobeconfiguredforeachtest,performthedesiredaction,an
发表于 7/18/2011 9:46:10 AM
阅读（5075）
生产环境下高亮度LED的高精度高性价比测试—— LED的漏电流测试
LeakageCurrentTestsNormally,moderatevoltagelevels(voltstotensofvolts)areusedtomeasurealeakagecurrent(IL).Theleakagecurrenttestmeasuresthelow-levelcurrentthatleaksacrosstheLEDwhenareversevoltagelessthanbreakdownisapplied.Itisacommonpracticeforle
发表于 7/15/2011 9:39:27 AM
阅读（1900）
生产环境下高亮度LED的高精度高性价比测试——LED的光学测试和反击穿电压测试¬
OpticalTestsForwardcurrentbiasingisalsousedforopticaltestsbecauseelectricalcurrentflowiscloselyrelatedtotheamountoflightemitted.Opticalpowercanbemeasuredbyplacingaphotodiodeorintegratingsphereclosetothedeviceundertesttocapturetheemittedphotons.Thisli
发表于 7/14/2011 5:43:32 PM
阅读（2498）
生产环境下高亮度LED的高精度高性价比测试——正向电压测试LED
Manytestsrequiresourcingaknowncurrentandmeasuringavoltage;othersrequiresourcingavoltageandmeasuringtheresultingcurrent.Therefore,highspeedtestinstrumentationwithintegrated,synchronizedsourcingandmeasuringcapabilitiesisidealforthesetypesoftests.很多测
发表于 7/13/2011 10:37:42 AM
阅读（2004）
生产环境下高亮度LED的高精度高性价比测试——可见光发光二极管（LED）的测试测量
Visiblelightemittingdiodes(LEDs)combinehighefficiencyandlonglifetimes.Today,they’reusedinawiderangeofapplications.ExtensiveR&Deffortsbymanufacturershaveledtothecreationofdeviceswithhigherluminousflux,longerlifetimes,greaterchromaticity,andm
发表于 7/12/2011 10:52:45 AM
阅读（2668）
相变存储器：基本原理与测量技术——标准的R负载测量技术以及吉时利新型测量技术
在标准R负载测量技术中（如图5所示），一个电阻与DUT串联，通过测量负载电阻上的电压就可以测出流过DUT的电流。采用有源、高阻抗探针和示波器[1]记录负载电阻上的电压。流过DUT的电流等于施加的电压（VAPPLIED）减去器件上的电压（VDEV），再除以负载电阻。负载电阻的大
发表于 7/11/2011 11:37:28 AM
阅读（3043）
