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单片机IO口的驱动能力

单片机的IO是有驱动能力限制的,特别是输出为高电平的时候,是有限制的。我们来看单片机的IO口在输出时电路结构:通过等效我们可以做出如下的模型因此我们通过测试可得到每个IO口的输出能力,上拉或下拉电阻实际包括两部分组成,实际上拉/下拉电阻+Mos管的Rdson。如果超
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对于设计的几点看法

随着在公司的日子增加,我慢慢开始不热衷于花太多时间去做项目,因为做项目需要耗费太多的时间和精力去做一些扯皮的事情,从前期的报价,出原理图出BOM表,一轮轮的系统定义,一轮轮的修改板子,降低成本,生产验证,其实是个很麻烦的事情。我以前很热衷于功能,很热衷
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谈谈模块的的引脚布置和ESD问题

http://blog.ednchina.com/yulzhu/246642/message.aspx在前面一篇博客中总感觉讲的不够详细,这里把东西补充一下,然后画一些图看起来容易些一些,并且补充一些材料。我们在设计接插件的时候要注意,引脚相邻距离,在不断的插拔过程中,引脚可能弯曲,这样会引起严重的
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电源掉电

我们是实际测试中,可能会出现间歇性的断电的情况,这可能是接触不好或者其他原因,因此我们需要从软件和硬件的设计中给单片机争取时间来保存数据和处理这种情况,因为如果断电时没有保存,可能出现上电后的无法恢复的问题。这是我们一般电源分电图,当电源跌落的时候,
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处理单片机的未使用引脚

通常我们并不会把所有的单片机的引脚都用完,有时候我们也在同一个产品上分高低配,因此如何对待一些不使用的引脚就成了一个问题。首先我们看一下单片机引脚的结构。我们可以发现,一般单片机的IO口都是可以配置的。CMOS器件引脚由N沟道和P沟道场效应管,通常在一个时刻
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感性噪声引起MCU的Reset

曾经看到过一个很好的分析过程,把所有的内容都总结出来了。在产品实验中,我们发现当部分电机启动的时候,单片机就Reset了。继电器开关期间产生的噪声耦合到了MCU信号线路上。这种噪声引起了MCU电流注入/出,这种耦合噪音有足够高的转换率才会引起了微控制器的复位时的
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解析一种带隔离IO电路

在这里解构一种接口电路,这种电路主要是用来检测外部继电器状态的一种IO口,自带诊断功能。这个电路很巧妙的把控制电路开通(KL30加上开关的_红色),电路本身自带诊断的(蓝色),低电压的(5V电压的)。可以说即保护了电路本身又防止电路有损坏的可能。电路的模型和
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管好我们的芯片样品库

相信大多数硬件工程师都会遇到一个问题,怎么样去保存自己的物料,申请样品是个麻烦的事情,如果没有项目做支撑很多样品都是很难获取的。但是如果买到了样品我们怎么去保存呢,相信大多数兄弟都可能会不太注意,因为我们首先会把包装给拆了,拿几个试一下性能,剩下的丢
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感性负载的危害

汽车上最危险的莫过于车锁和车窗电机的负载,其巨大的杀伤力还是恐怖的。先看看车锁和控制车锁的大致结构:我们一般用两个电机来控制开锁和解锁:闭锁的时候面临着巨大的挑战,因为电机闭锁时会堵转,电机电流检测时间不可能过段,因此会出现一个巨大的干扰源如果不加保
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暂态分析和拉普拉斯变换3-Reset

这篇文章主要介绍Reset的计算,一般我们的LDO都有reset的功能,举个例子TLE4299框图如下:MCU的reset分好多种,这里主要先讨论两种reset的计算,第一种是内部reset,watchdog(内部或外部)检测到单片机的异常Reset。第二种是LDO在启动的时候的reset,或者电压过低的时
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意见收集

我发现来的人都不愿意说话,因此开个日志说一下吧。起始大多数的应用文档都是定性的给一些公式,说明的又简单,实际在使用过程中总是又这个或者那样的因素没有考虑进去,因为要分析的东西太多,所以总是不太能做得全。我个人的感觉是把问题考虑的周全一些,把各个性能分
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暂态分析和拉普拉斯变换2

我们来看这个例子,我们首先要知道,在SW—BATT切换的时候,到底多少时间能够让MCU的端口达到高电平,这样才能让软件知道隔多少时间去检测,一方面不会错失信号,另一个方面不会检测不到信号。然后我们开始计算,依旧是节点电压法,特别说明的是把sx代替s,s在计算
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暂态分析和拉普拉斯变换1

本文比较基础主要参考教材整理得来。我们在很多地方都要分析电路的暂态响应,最简单的就是在仿真软件里面做一下就出来了,当然我们也可以使用拉普拉斯变换来求解电路的响应。这里面还有两个应用,对于输入的接口电路来说,通过拉普拉斯变换可以得到电路的传递函数,通过
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直流继电器的吸合电压和热计算

这次主要是和relay相关的先把参考文档罗列出来(Tyco):TycoTemperatureConsiderationsforDCRelays(13C3226)继电器在不同的温度下,它的参数都会产生变化,首当其中的是线圈电阻。假定继电器产生相同的磁力的吸合电流在不同电压下是不便的,吸合电压随着线圈电阻的变化
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一个棘手的电路检测问题

遇到一个非常棘手的问题,在电路检测中,电阻网络范围比较大,电阻之间间隔较小的时候,如何去检测电路确实是一个很难办的问题,在成本受限制的情况下,是不可能像仪器内部设计那样的。各位如果有好的方案请提供。该问题由allenmnella提出。我的计算过程如下,不考虑漏
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